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進行繼電保護裝置測試時，繼電保護測試儀的開入量與保護裝置動作與否、動作時間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場試驗經(jīng)常會出現(xiàn)繼電保護跳了，但繼保測試儀未收到動作接點，檢查開入接線、保護動作均良好，單獨短接開入量進行測試時也顯示正常。 針對此類問題，我們可以從開入量的原理入手進行分析?！ ?/p>
△ 圖1 開入量端子原理圖
△ 圖2 無電位接點 △ 圖3 帶電位接點
圖1以開入A舉例說明，其他路開入量與開入A原理相同，并共用電源和COM端。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1，圖1中O1為光耦，光耦負邊通至測試裝置主板，當光耦由通變斷或由斷變通，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時，測試儀會記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時刻。
此電路的工作原理： O1最小導通電流為Imin，最大工作電流為Imax，回路電流為I，當I≥Imin，時，O1導通，IImax時，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(圖 2)和帶電位接點(圖3)兩種情況進行說明。
直接從保護裝置跳閘端子接線，未引入直流電源回路。 試驗時可能會出現(xiàn)兩種接法：
1、取1、2兩點接入測試裝置的開入量COM、A，由于無電位，兩點接線可以任意交換。 此時，若開關(guān)為分，電路開路， I=0，光耦不通。 當保護裝置給出跳閘信號時，圖中開關(guān)會由分到合，此時 ，(U1、R1、R2的值固定)光耦導通，測試裝置記錄動作。 此種接法進行測試時通常不會出現(xiàn)異常。
2、當從1、3兩點接入時，回路中多串入一個電阻R，此時 ，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當R足夠大導致I
2、COM接點1，A接點3，此種情況開關(guān)未閉合時電流 ，光耦不通。 當保護跳閘，開關(guān)閉合時，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時電流 ，光耦還是不通，測試裝置無法記錄動作，因此此種接法錯誤。
3、COM接點2，A接點3，此種情況開關(guān)未閉合時，電流 ，若R較小，能使I≥Imin，則光耦導通，當保護跳閘，開關(guān)閉合時，電阻R上的電壓UR=U2，電流 ，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?，狀態(tài)有變化，測試裝置能正常記錄動作時間。 若 R較大，使得開關(guān)未閉合時電流 ，光耦不通，此種情況無論開關(guān)是否閉合，光耦均不通，測試裝置無法正常記錄保護動作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測試均取決于 R的大小，一般不建議采用。
除此之外，還有其他接線方法以及純電位高低的測試，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。
綜上所述，現(xiàn)場試驗時，無論是不帶電位接點還是帶電位接點，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式，通常不會出現(xiàn)異常。 無法正常記錄時，可以甩開保護接線，在測試裝置運行時用短接線直接對 A和COM短接，若測試裝置能正常記錄動作，則可以排除繼保測試儀的故障。
