Hitachi日立高新場發(fā)射掃描電鏡SU5000
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像--
日立*公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射

掃描電子顯微鏡"SU5000"，搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
掃描電子顯微鏡在納米技術(shù)領(lǐng)域、材料領(lǐng)域、醫(yī)學(xué)生物等領(lǐng)域均被廣泛使用。但隨著近年來儀器性能的大幅提升，以及用戶群體的不斷擴大，使得用戶對不需要任何經(jīng)驗和技術(shù)就能得到好照片的需求迅速擴增。而且，由于觀察對象的樣品的不斷多樣化，對樣品的大小和性質(zhì)的無制約觀察變得尤為重要。
 這次新開發(fā)的"SU5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”EM Wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人為本的設(shè)計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗豐富的操作人員也可以像往常一樣自由的選擇觀察條件，按照自己的操作習(xí)慣進行設(shè)置。”EM Wizard“對于初學(xué)者或者使用經(jīng)驗尚淺的客戶來說，它*的操作簡易性和各種學(xué)習(xí)工具可以幫助您迅速成長起來；對使用經(jīng)驗豐富的客戶來說，開放了豐富的可設(shè)置選項，會令您操作起來更加得心應(yīng)手。這正是"EM Wizard"的價值所在。

另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現(xiàn)性得到大大提高。并且，為了能適應(yīng)各種分析的需求，大束流可達到200nA。再加上全新設(shè)計的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等，都使該款電鏡無論在是觀察樣品還是分析都具備了*的功能與強大的擴展性。

 日立高新在8月3日至8月7日在美國康涅狄格州舉辦的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千葉縣幕張展覽中心舉辦的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克舉行的"18th International Microscopy Congress"上都做了實機展出。

*：肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡：高亮度、大束流、*穩(wěn)定性匯聚一身肖特基式場發(fā)射電子顯微鏡。分辨率高和可做各種定量定性分析。

 

Hitachi日立高新場發(fā)射掃描電鏡SU5000?主要參數(shù)

 *1：減速模式是選配項     *2：低真空模式是選配項

2014年，日立*公司（以下簡稱：日立高新） 新型肖特基場發(fā)射掃描電鏡*"SU5000"作為工業(yè)用設(shè)備榮獲由公益財團法人日本設(shè)計振興會頒發(fā)的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度設(shè)計獎)。

注：該儀器未取得中華人民共和國醫(yī)療器械注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途