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| 參考價 | ￥600000-￥1000000 | /臺 |
參考價：￥600000 ~ ￥1000000
更新時間：2025-04-27 16:09:12瀏覽次數(shù)：3030評價
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
一、概述
ME-Mapping 光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測量表征和分析。
■ 全基片橢偏繪制化測量解決方案；
■ 支持產(chǎn)品設(shè)計以及功能模塊定制化，一鍵繪制測量；
■ 配置Mapping模塊，全基片自定義多點定位測量能力；
■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。
二、產(chǎn)品特點
■ 采用氘燈和鹵素?zé)魪?fù)合光源，光譜覆蓋紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)；
■ 高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；
■ 具備全基片自定義多點自動定位測量能力，提供全面膜厚檢測分析報告；
■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料。
三、產(chǎn)品應(yīng)用
ME-Mapping廣泛應(yīng)用OLED，LED，光伏，集成電路等工業(yè)應(yīng)用中,實現(xiàn)大尺寸全基片膜厚、光學(xué)常數(shù)以及膜厚分布快速測量與表征。
可選配件
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| 真空泵 | 透射吸附組件 |
技術(shù)參數(shù)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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