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产品概述
泓川科技LTP150/LTP150W激光位移传感器专为工业自动化精密测量场景设计，提供非接触式高精度位移检测，适用于精密加工、3C电子、汽车制造、半导体等领域的厚度、形变、位置及表面平整度测量。搭载纳米级标定技术，重复精度达±0.02% F.S.，线性误差仅±0.02% F.S.，满足严苛工业标准。

核心优势

1. 双光斑适配多样场景

• LTP150：聚焦光斑（Φ110μm），适用于微小目标高精度定位。

• LTP150W：宽光斑（110*1400μm），适配粗糙、反光或曲面材料检测，减少光斑抖动干扰。

2. 高速响应与抗干扰能力

• 采样频率50kHz，响应时间快至6.25μs，动态捕捉高速产线数据。

• 支持多探头同步测厚、交替曝光模式，有效抵抗环境光干扰。

3. 工业级防护与宽温适应

• IP67防护等级，压铸铝外壳+耐油PVC线缆，适应油污、粉尘环境。

• 工作温度标准版0°C~+50°C，可选-40°C~70°C宽温版本，严寒酷暑稳定运行。

4. 灵活接口与智能控制

• 支持0-10V、4-20mA模拟量输出，RS485/TCP/IP通讯，无缝集成PLC/工控系统。

• 独立主机/从机模式，支持多设备组网，实现复杂测厚、多点同步检测。

技术亮点

• 超低温漂：温度特性0.01% F.S./°C，长期测量一致性优异。

• 抗振设计：55Hz双振幅1.5mm振动环境下稳定工作。

• 定制化服务：可选405nm蓝光版本（高反光材料适用）及特殊量程/功率需求。

典型应用

• 锂电池极片厚度在线监测

• 精密零部件尺寸分选

• 半导体晶圆平整度检测

• 轮胎橡胶层厚度控制

为什么选择LTP150系列？

• 无需控制器：探头独立运行，降低系统复杂度与成本。

• 开发友好：提供C++/C# SDK及测控软件，快速二次开发。

• 验证：通过纳米级激光干涉仪标定，品质可靠。