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LTP150国产高精度激光位移传感器对决德国西克国西克OD 5000-C150T402025/6/14

在工业自动化检测领域，激光位移传感器的精准度与成本控制已成为产线升级的关键考量。本文聚焦SICKOD5000-C150T40与泓川LTP150两款产品，通过核心参数解析与应用场景对比，揭示LTP150...

泓川科技LTP020与基恩士LK-H025激光位移传感器深度对比2025/6/13

一、核心参数对标：从数据看硬实力（1）测量精度：微米级较量下的国产突破基恩士LK-H025凭借±0.02%F.S.的线性度（F.S.=6mm）和0.02μm的重复精度（标准白色漫反射工件...

泓川科技激光三角位移传感器LTP在回转轴偏移量精密测量中的技术应用案例2025/6/10

一、引言在机械系统中，回转轴的旋转稳定性直接影响设备的运行精度与可靠性。针对回转轴同心度检测及偏移量测量的需求，本文基于激光三角法原理，采用泓川科技LTP030U超宽光斑激光位移传感器，构建了一套非接...

泓川科技HC26激光位移传感器全方面国产替代奥泰斯OPTEX CD33系列2025/6/9

一、核心参数对比维度奥泰斯CD33泓川科技HC26检测类型漫反射型/正反射型（部分型号）全型号支持正反射安装方式基准距离30/50/85/120/250mm（正反射型：26.3/47.3/82.9mm...

泓川科技HC16系列vs奥泰斯OPTEX CD22系列激光位移传感器对比与可替代性分析2025/6/9

一、核心参数与功能横向对比维度泓川科技HC16系列奥泰斯CD22系列差异化解析型号矩阵15/35/100/150mm（4款，含150mm远距离型号）15/35/100mm（3款，无150mm规格）HC...

泓川科技光谱共焦位移传感器在手机油墨涂刷工艺中的高精度测量解决方案2025/6/4

一、应用背景手机制造中，油墨涂刷是关键工艺之一，需经历7次精密涂刷，每次均需确保涂层平整度与厚度一致性。传统接触式测量易损伤涂层，且精度难以满足微米级要求。泓川科技LTC400系列光谱共焦位移传感器凭...

泓川科技LT-R 系列白光干涉测厚仪：纳米级精度丈量新维度2025/5/26

在高DUAN制造与精密检测领域，膜层厚度的精准把控直接决定产品性能与工艺水平。泓川科技重磅推出的LT-R系列反射膜厚仪（白光干涉测厚仪），以光学技术革新与智能算法突破为核心，为半导体、显示面板、光伏能...

泓川科技LTM3系列与米铱 ILD1750 系列激光位移传感器深度对比2025/5/26

一、引言在工业自动化领域，激光位移传感器作为精密测量的核心部件，其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技LTM3系列与米铱ILD1750系列，从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比，揭...

泓川科技光谱共焦传感器在 TPU 灰膜厚度检测中的应用技术案例2025/5/23

一、行业背景与检测挑战TPU灰膜（热塑性聚氨酯薄膜）作为高duan功能性材料，广泛应用于光学屏幕?；ぁ⑵狄纬狄?、电子元件封装等领域。其厚度均匀性直接决定产品的透光率、抗冲击性及使用寿命。传统接触式...

泓川科技发布具备TCP/IP网口通讯的高精度国产激光位移传感器2025/5/13

一、破局万元壁垒：3000-4000元网口传感器开启普惠智能时代在工业传感器领域，具备以太网（网口）输出功能的激光位移传感器长期被海外品牌以万元价格垄断，成为自动化升级的“卡脖子”环节。无锡泓川科技携...

基于光谱共聚焦技术的胶水表面弧度高精度测量方法研究2025/4/22

本文针对工业生产中透明胶水在倒锥形圆孔内表面弧度的测量难题，提出基于光谱共聚焦传感器的非接触式高精度测量方案。通过横向扫描与多线数据融合技术，实现了复杂曲面形态的数字化重构，并结合实际案例验证了该技术...

泓川LTP150 激光位移传感器在高铁列车车轮横向截面轮廓扫描2025/4/18

一、项目背景与测量挑战随着高速铁路的高速发展，列车车轮的工艺精度成为保障运行平稳性与安全性的核心要素。车轮表面经精细抛光后反射率极gao，传统激光位移传感器受强反光干扰易出现数据失真；同时，车轮边缘存...

泓川大角度光谱共焦传感器在 3D 玻璃弧高与平面特性精密测量中的应用技术2025/4/15

一、引言随着消费电子、汽车玻璃等领域对3D玻璃的需求激增，其表面弧高与平面特性的精密测量成为质量控制的关键环节。3D玻璃的复杂曲面（如2.5D/3D盖板玻璃的边缘弧面、汽车玻璃的三维曲率）对测量技术提...

泓川HC26-30 vs 奥泰斯 CD33-30：激光位移传感器多维对比与替代价值分析2025/4/14

在工业自动化精密测量领域，激光位移传感器的选型直接影响设备性能与成本。本文聚焦泓川科技HC26系列与奥泰斯OPTEXCD33-30系列（模拟量通讯版本），从技术参数、功能设计、成本效益等维度展开对比，...

泓川科技白光干涉测厚仪在晶圆碳化硅层厚度测量中的应用实践2025/4/13

一、引言在第三代半导体材料蓬勃发展的背景下，碳化硅（SiC）凭借其优异的物理化学性能，成为制备高压、高频、高温功率器件的核心材料。晶圆表面碳化硅外延层的厚度均匀性直接影响器件的电学性能与可靠性，因此实...