在使用掃描電鏡的過程中，您是否總是遭遇如下問題：
1. 在不同設備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區(qū)域
2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數，調整像散聚焦
3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁
針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡進行全新武裝，特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。
關聯(lián)定位分析
蔡司Connect模塊輕松實現(xiàn)光學顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現(xiàn)樣品在不同設備間的重新定位，還能統(tǒng)一管理關聯(lián)設備的數據和信息
? 關聯(lián)定位：通過關聯(lián)樣品臺實現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設備之間自動關聯(lián)重定位，大幅縮減操作用時
? 數據疊加：自由疊加來自手機，光學顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關能譜信息
? 統(tǒng)一管理：管理來自不同關聯(lián)設備的數據，輸出不同信息疊加圖像和視頻
PCB電路板的關聯(lián)顯微分析（光鏡，電鏡，能譜信息），左：宏觀圖像；右：感興趣位置局部放大
自動成像
蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數設置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像
? 向導式操作流程，界面簡潔，操作簡單
? 根據樣品智能匹配成像參數，實現(xiàn)自動聚焦
? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接
簡潔的SmartSEM Touch操作界面
量化分析
蔡司ZEN模塊實現(xiàn)從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程
? 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向導式的分析工作流程，毫無經驗的新手也可輕松掌握
? 基于機器學習的ZEN Intellesis模塊輕松實現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達成的圖像處理需求
? 豐富的測量功能，如顆粒統(tǒng)計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等
量化分析界面-二值化分割
金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析
滿足多種測量需求——高級測量
含量百分比
晶粒度評級
顆粒分析
孔隙率分析
蔡司智能掃描電鏡解決方案滿足您的多種需求，您可關注蔡司顯微鏡微信公眾號（ZEISSMIK）了解蔡司智能掃描電鏡在生命科學、材料科學、金屬行業(yè)及電子行業(yè)四大領域解決方案。
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