详细介绍
日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D
适用?于 B,C,D,F,G,J,K类,切屑,熔体,径向和轴向电阻器的分拣和编带机
- 超高精度:分辨率10ppm,基本精度±0.005%
- 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
- 由于从模拟到数字的隔离而提高了抗噪声能力,因此具有很高的稳定性
- 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量
- 值测量:0.00mΩ?125.00MΩ
%测量:5mΩ?109mΩ[±10.000%/-99.99?+ 25.00%] - 接触检查:测量前/测量后/ OFF
- RS-232C接口标准设备(GP-IB是可选的)
- 打印机输出标准设备(与Centronics兼容)
- 设置值传送功能作为标准设备:(相同的设置数据可以传送到另一台AE-163D并自动设置)
- 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
- 配备测量探头自动清洁电路
校准后90天[校准后1年:两倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D
测量范围 | 标准值设定范围 | 实测电流 | 测量精度* | ||
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慢[高分辨率] | 快速[LO-Resco。] | 快速[Lo-Resco。] | |||
100毫欧 | 5mΩ-100mΩ | 180毫安 | ±0.01%±α±10d以内 | 在±0.02%±α±2d之内 | ≤±0.03%±2α±3d±[2 /(1 + n)] d |
1Ω | 100.1mΩ?1Ω | 180毫安 | 在±0.005%±α±3d之内 | ±0.02%±α±1d以内 | ≤±0.02%±α±2d±[2 /(1 + n)] d |
10Ω | 1.001Ω?10Ω | 90毫安 | |||
100Ω | 10.01Ω-100Ω | 18毫安 | ±0.005%±1d以内 | ±0.02%±1d以内 | 在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内 |
1kΩ | 100.1Ω?1kΩ | 9毫安 | |||
10kΩ的 | 1.001kΩ?10kΩ | 0.9毫安 | |||
100kΩ的 | 10.01kΩ-100kΩ | 90微安 | |||
1兆欧 | 100.1kΩ?1MΩ | 9微安 | ±0.007%±1d以内 | 在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内 | |
10兆欧 | 1.001MΩ?10MΩ | 0.9微安 | ±0.02%±10d以内 | ±0.03%±1d以内 | 在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内 |
100兆欧 | 10.01MΩ-100MΩ | 0.09微安 | ±0.1%±20d以内 | ±0.1%±2d以内 | --- |
* D =数字,n =积分时间(毫秒),使用Lo-Reso测量值
%时测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,测量值时: α= 0(加±1d)
**屏蔽状态下的精度
测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
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慢 | 快速 | 慢 | 快速 | |
大约24毫秒-400毫秒 | 大约11毫秒-400毫秒 | 约5次/秒? 约2次/秒 | 约10次/秒? 约2次/秒 |
测量端子开路电压 | 15V以下 |
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测量结束信号(EOC)脉冲宽度 | 1到250毫秒,并且可以连续设置 |
测量方式 | 4端子测量/ 2端子测量可切换 |
判断值设定范围 | 测量%:±10.000%/-99.99%?+ 25.00% |
值测量:00000-12500 | |
周边环境 | 温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下 |
需要电源 | AC85V?265V,50Hz?60Hz,约50VA |
外形尺寸 | 333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起) |
重量 | 约3kg |
选项 | ? GP-IB |
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?数据传输线 | |
?短接(零欧姆标准电阻) | |
? 3P x 2→5P转换适配器(AEA-35) |
*规格如有变更,恕不另行通知。