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X射线薄膜测厚仪的检测原理及优势

测厚仪（薄膜测厚仪）使用软X射线（soft X-rays）。以非接触方式（软 X 射线）测量片材和板状物体的厚度和密度（基重）。不是直接测量厚度，而是通过与参考材料比较来计算厚度和密度（基重）。
　通常，为了测量片材宽度方向的厚度分布，检测系统由扫描仪携带并测量。激光位移计一般用作非接触式测量厚度的手段，但如果将激光位移计安装在扫描仪上，则在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输。运输，导致结果。高精度的测量是困难的。
　另一方面，在X射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中，测量的是空气层-样品-空气层与透射之间的衰减，但样品的衰减远大于，传输的影响只表现为空气层厚度的变化，影响较小。因此，可以高精度地测量。

X 射线测厚仪的一般特点

1. 无需规定放射线处理负责人或X射线工作负责人或设置控制区域
   （需要通知劳动标准检查办公室）
   

2. 路径错误可以忽略
   

3. 元素依赖性大
   

与传统的软 X 射线测厚仪相比，我们的软 X 射线测厚仪的特点

1. 探测器和 X 射线源结构紧凑、重量轻，甚至可以安装在狭窄的线路中。
   

2. 宽测量范围（材料/厚度）
   

采用

• 铜箔、铝箔、不锈钢箔
  

• 电池电极
  

• 陶瓷（片材、晶片）
  

• 玻璃纤维布