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大塚电子(苏州)有限公司>>光纤光谱仪>>多通道光纤光谱仪>> MCPD多通道光谱仪

多通道光谱仪

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  • 多通道光谱仪
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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 MCPD
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 苏州市
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更新时间:2020-06-12 16:16:03浏览次数:1305

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产品简介

按探测器 CCD 分辨率 0.1nmnm
光谱范围 紫外,220nm~1600nmnm 光谱范围 紫外,220nm~1600nmnm
价格区间 面议 应用领域 医疗卫生,化工,电子/电池,包装/造纸/印刷,电气
杂散光 1.8E^-5(450~550nm)
MCPD系列多通道光谱仪能对紫外、可视、红外区域的光谱进行高速、高灵敏度的检测。共12个波长,可配合客户的需求与测量用途,选择适合的检测器。

详细介绍

多通道光谱仪MCPD系列

 

膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列

(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供丰富选配套件以及客制化光纤,

可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的即时测量系统

 

分光光谱仪种类

  • MCPD-9800:高动态范围分光

  • MCPD-6800:紫外/可见/近红外光分光光谱仪

  • MCPD-7700:高感度分光

膜厚测量

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜

02.jpg03.jpg

膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。

04.jpg

影印機感光鼓膜厚度量測

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜

01.jpg02.jpg

LB膜测量

01.jpg

蒸馏膜测量

02.jpg03.jpg

多点膜厚测量

  • 半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剥离液厚度、湿狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)

  • 树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜

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