雙面量測探針臺(上下點針方式) M-6系列

可兼容DC測試、射頻、高頻、微波測試
直流到高頻量測范圍 

雙面量測探針臺(上下點針方式) 特點： 

XY龍門式移動平臺，與顯微鏡精微調(diào)裝置配合，設計結構穩(wěn)定，可操控范圍廣，放置樣品以及點針操作方便 

可搭配體式顯微鏡/高倍率長工作距離視頻顯微鏡/高分辨率金相顯微鏡、熒光顯微鏡等…
探針座可根據(jù)移動精度選擇，吸附方式可選磁吸附或真空吸附 

雙面式點針操作，樣品固定設計合理 

規(guī)格： 

可選項： 

* 根據(jù)樣品尺寸選擇主體
* 體式顯微鏡/高分辨金相顯微鏡
* 客戶定制化移動平臺
* 各類樣品夾具
* 氣壓式顯微鏡升降調(diào)節(jié)
* 各類DC探針、高頻探針、主動式探針、電纜線等…
* 低電容、電流探測裝置
* 高電壓探測裝置
* 雷射切割裝置
* CCD或C-MOS視頻成像裝置
* 各類探針夾具
* 靜音真空泵
* 屏蔽箱
* 防振桌
* 適配器
* 轉接頭
* 電學測試設備
* 其它外圍組件 

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