尼通光譜儀XL5 Plus是一款新型的高性能 X 射線熒光（XRF）光譜分析儀，幾何結(jié)構(gòu)緊湊，又小又輕，同時(shí)具備石墨烯窗口的大面積硅漂移探測(cè)器和功能強(qiáng)大的5W X射線管，為苛刻的應(yīng)用（如薄涂層測(cè)量）提供了優(yōu)良的靈敏度。
尼通光譜儀XL5 Plus是一款新型的高性能 X 射線熒光（XRF）光譜分析儀，它的幾何結(jié)構(gòu)緊湊，又小又輕，同時(shí)具備石墨烯窗口的大面積硅漂移探測(cè)器和功能強(qiáng)大的5W X射線管，為苛刻的應(yīng)用（如薄涂層測(cè)量）提供了優(yōu)良的靈敏度。
此前，XL5光譜儀已廣泛應(yīng)用于化學(xué)涂層生產(chǎn)商、汽車企業(yè)以及許多工業(yè)企業(yè)中。可以對(duì)鋁合金、冷軋鋼（CRS）、電鍍鋅（EG）和熱浸鍍鋅鋼（HDG）等基材上的鋯和鈦涂層進(jìn)行質(zhì)量控制。具備強(qiáng)大的基本參數(shù)算法，可以為此類應(yīng)用提供更加簡(jiǎn)便的工作流程。
非標(biāo)涂層模式可準(zhǔn)確確定純金屬、合金、塑料或木材各種基底上4層涂層的厚度。檢測(cè)合金（如鋼或鋁合金）上的鈦和鋯轉(zhuǎn)化鍍層的涂層厚度也十分輕松。不僅如此，儀器操作簡(jiǎn)單，用戶開機(jī)即可使用，無需校準(zhǔn)，也無需接受復(fù)雜的技術(shù)培訓(xùn)。
適合檢測(cè)現(xiàn)代轉(zhuǎn)化膜，測(cè)量的Zr 和 Ti 在鋼、鍍鋅鋼或鋁合金等不同基體上的預(yù)期值和測(cè)量值之間取得了良好的相關(guān)性和一致性。與尼通XL3t手持式光譜儀的經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)法相比，基本參數(shù)模式更易于使用，更靈活，并且不需要許多參考樣品。無需標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)，僅使用每種涂層類型的少量樣品進(jìn)行檢測(cè)，即可獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。如果需要更高精度，用戶可以微調(diào)分析儀的配置曲線，達(dá)到更好準(zhǔn)確度。
尼通光譜儀XL5 Plus是汽車和金屬表面處理行業(yè)中控制 Zr 和Ti 轉(zhuǎn)化鍍膜的涂層厚度的理想設(shè)備。可以快速獲得投資回報(bào)：
1、提高生產(chǎn)力。在幾秒鐘內(nèi)實(shí)時(shí)顯示測(cè)量的涂層厚度。在涂層過程中實(shí)現(xiàn)及時(shí)控制，輔助在成品或半成品的質(zhì)量控制中快速作出決策。
2、具有較低的初始投資和較低的運(yùn)營(yíng)成本，而分析性能可與實(shí)驗(yàn)室儀器相匹配。
3、易于使用。方法開發(fā)和操作不需要實(shí)驗(yàn)室人員即可完成。
4、無損分析。分析儀接觸樣品表面不會(huì)造成損傷。手持式設(shè)計(jì)可以直接在成品上進(jìn)行測(cè)量，無需切割樣品將其帶到實(shí)驗(yàn)室。
5、用途廣泛。不僅可以用于涂層測(cè)量，還可用于確定非涂層材料（如鋁合金）的合金牌號(hào)等。
它的易用性和耐用性使其成為理想的鍍層檢測(cè)工具，用于在車間對(duì)零部件的進(jìn)貨檢驗(yàn)，以及對(duì)工藝和質(zhì)量控制。校準(zhǔn)軟件的通用性也可實(shí)現(xiàn)鍍液分析（單一和多元素），保證了鍍液成分的快速監(jiān)測(cè)。幾秒鐘就可以測(cè)試出結(jié)果，現(xiàn)場(chǎng)即可判定一個(gè)部件是否合格或是否需要修改電鍍工藝，大大提高生產(chǎn)力，并節(jié)約了成本。
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