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在線硅錠成像設(shè)備 詳細(xì)摘要： MDPinline ingot在線硅錠成像設(shè)備：各種不同的樣品，從單晶硅到多晶硅，從生長(zhǎng)的晶片到加工過的晶片，都可以通過MDPlinescan使用少子壽命測(cè)量進(jìn)...
產(chǎn)品型號(hào)：MDPinline ingot 所在地：國外 更新時(shí)間：2024-08-29 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
單晶和多晶少數(shù)載流子壽命在線測(cè)試設(shè)備 詳細(xì)摘要： 應(yīng)用范圍：靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測(cè)量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)軟件接口，易于連接到許多處理...
產(chǎn)品型號(hào)：MDPlinescan 所在地：國外 更新時(shí)間：2024-08-29 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
單晶和多晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)試設(shè)備 詳細(xì)摘要： MDPmap單晶和多晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)試設(shè)備設(shè)計(jì)用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)、測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)的小型臺(tái)式無觸點(diǎn)電特性測(cè)量?jī)x器，在穩(wěn)態(tài)或...
產(chǎn)品型號(hào)：MDPmap 所在地：國外 更新時(shí)間：2024-08-29 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
晶圓/晶錠少子壽命檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要： MDPpro晶圓/晶錠少子壽命檢測(cè)儀優(yōu)勢(shì)介紹：●靈敏度: 對(duì)外延層監(jiān)控和不可見缺陷檢測(cè)，具有可視化測(cè)試的●高分辨率●測(cè)試速度: 1s內(nèi)完成對(duì)156mm的線掃描，...
產(chǎn)品型號(hào)：MDPpro 所在地：國外 更新時(shí)間：2024-08-29 參考價(jià)： 面議 在線留言