目录:深圳鹏丰联实业有限公司>>综合测试仪>>方阻仪>> HPS2661半导体四探针电阻率测试仪方阻仪
| 产地类别 | 国产 | 类型 | 数字式电阻测试仪 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,包装/造纸/印刷,纺织/印染 |
半导体四探针电阻率测试仪方阻仪
HPS2661四探针电阻率测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
半导体四探针电阻率测试仪方阻仪
性能特点:v 超大液晶人性化操作界面
v 多种测量参数可选
v 测量数据自动保持功能
v 超快测量并显示读数
v 量程有自动和手动双模式
v 档号显示及档计数功能
v 兼容多种材料测量
v 专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制
应用
硅类半导体材料
柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层
HPS2661四探针电阻率测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
半导体四探针电阻率测试仪方阻仪性能特点
v 超大液晶人性化操作界面
v 多种测量参数可选
v 测量数据自动保持功能
v 超快测量并显示读数
v 量程有自动和手动双模式
v 档号显示及档计数功能
v 兼容多种材料测量
v 专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制
应用
硅类半导体材料
柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层
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