Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器
為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量，請(qǐng)升級(jí)到1207N Varex Imaging CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）X射線平板探測(cè)器。
1207N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù)，并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這

Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器

為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量，請(qǐng)升級(jí)到1207N Varex Imaging CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）X射線平板探測(cè)器。

1207N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù)，并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。

CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。

1207N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：

• 74.8μm像素間距
• 1536 x 864像素
• 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
• 高工作電壓160 kV
• 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
• 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
• 高DQE
• 各種閃爍器選項(xiàng)
• X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
• Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接

1512N

為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量，請(qǐng)升級(jí)到1512N Varex Imaging CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）平板探測(cè)器。

1512N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù)，并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。

CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。

1512N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：

• 74.8μm像素間距
• 1944 x 1536像素
• 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
• 高225 kV的操作
• 適用于高達(dá)86 fps的實(shí)時(shí)成像
• 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
• 高DQE
• 各種閃爍器選項(xiàng)
• X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
• Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接

2315N

CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。

2315N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：

• 74.8μm像素間距
• 3072 x 1944像素
• 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
• 高工作電壓160 kV
• 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
• 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
• 高DQE
• 各種閃爍器選項(xiàng)
• X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
• Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接

Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器