X-射線衍射分析法目前已廣泛應(yīng)用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力測定等方面。在不同溫度下測試的樣品物相可能會(huì)發(fā)生變化，原位X-射線衍射高低溫樣品臺(tái)可以為樣品提供良好的變溫測試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測試需求。
●XRD（X-ray Diffraction）中文全稱是X射線衍射，是一種快速、準(zhǔn)確、高效的材料無損檢測技術(shù)。作為一種表征晶體結(jié)構(gòu)及其變化規(guī)律的手段，其應(yīng)用遍及材料、化學(xué)、生物、醫(yī)藥、陶瓷、冶金、礦產(chǎn)等諸多領(lǐng)域。但大多數(shù)對于XRD的測試原理一知半解，對其應(yīng)用停留在簡單的物相鑒別階段，對其不同樣品的測試要求和注意事項(xiàng)也不甚清楚。在此，我們用最簡潔易懂的語言對XRD從原理到應(yīng)用進(jìn)行了詳細(xì)的總結(jié)，希望能給大家一些幫助。
X射線照片
●由于X射線具有極大的能量，當(dāng)其到晶體中時(shí)，晶體中的原子會(huì)在X射線的作用下被迫做周期性的運(yùn)動(dòng)，從而會(huì)以原子球?yàn)閱挝粚ν獍l(fā)射次生波，該波的頻率與入射X射線一致，這個(gè)過程就成為X射線的散射?？紤]到晶體中的原子在空間上呈周期性的規(guī)律排布，這些散射球面波之間存在著固定的位相關(guān)系，會(huì)在空間產(chǎn)生干涉，結(jié)果導(dǎo)致在某些散射方向的球面波相互加強(qiáng)，而在某些方向上相互抵消，從而也就出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。 因此，晶體中的X射線衍射實(shí)質(zhì)上就是大量原子散射波在空間上相互干涉的結(jié)果。
蔡康光學(xué)XRD冷熱臺(tái)可以實(shí)現(xiàn)的溫度控制范圍分別為：-190°C~600°C，-120-600°C,RT~1200°C，RT-1400°C在空氣、惰性氣體或真空的環(huán)境條件，與常見的X-射線衍射儀配套使用。XRD冷熱臺(tái)適合各種類型的樣品在高低溫下進(jìn)行X-射線結(jié)構(gòu)研究，多種樣品架可配合反射和透射模式，支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學(xué)等）上改造適配。
XRD的典型應(yīng)用可以分為定性和定量兩部分，常用的XRD分析有以下五大類：（1）物相定性；（2）確定晶胞參數(shù)；（3）晶體取向度分析；（4）晶粒尺寸計(jì)算；（5）物相定量計(jì)算。
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