淀粉損傷檢測(cè)試劑盒, Starch Damage Assay Kit , 貨號(hào)：K-SDAM

中文品名：淀粉損傷檢測(cè)試劑盒

品名：Starch Damage Assay Kit

規(guī)格：200 次檢測(cè)

應(yīng)用：淀粉損傷檢測(cè)試劑盒，用于谷物面粉中淀粉損傷的檢測(cè)和分析。

原理：

谷物淀粉中淀粉損傷紫外檢測(cè)方法

檢測(cè)方法：分光光度法 @510 nm

反應(yīng)時(shí)間：~ 40分鐘

檢測(cè)限：樣品重量的0.5-100%

應(yīng)用案例：

谷物面粉和其它食材。

方法識(shí)別：

符合AACC (方法 76-31.01), ICC (標(biāo)準(zhǔn)號(hào) 164) 和 RACI (標(biāo)準(zhǔn)方法)。

試劑盒組成：

優(yōu)點(diǎn)：

價(jià)格非常具有競(jìng)爭(zhēng)力
所有試劑制備后可以穩(wěn)定保存超過(guò)2年
僅提供酶法檢測(cè)試劑盒
特異性
操作簡(jiǎn)單
提供Mega-Calc™ 軟件工具用于一站式原始數(shù)據(jù)處理
包含標(biāo)準(zhǔn)品