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日本三菱低電阻率自動測量儀 小型映射系統(tǒng) MCP-S330 型

表面電阻率[Ω/τ]，體積電阻率[Ω·cm]不受樣品形狀影響

• 導(dǎo)電薄膜、金屬、ITO薄膜等薄膜厚度和成分的變化一目了然

• 可映射高達 300mm 的樣品，并連續(xù)測量多個樣品

• 與洛雷斯塔 GX 連接，可測量 10-4 至 10+7 Ω 范圍

• *自動化測量、計算、數(shù)據(jù)處理和 3d 圖形輸出

導(dǎo)電薄膜、金屬、ITO薄膜等薄膜厚度和成分的變化一目了然

• 對顯示裝置（液晶和有機EL）的高速響應(yīng)，對精細化的要求，電極基板的均勻性變得更加重要。

• 表面電阻率取決于材料。 如果材料均勻，則薄膜厚度和表面電阻率減小。

• 在薄膜領(lǐng)域，通過繪制表面電阻率圖來評估薄膜厚度的變化。

Metrol HT-STM82A 

Bando A-13CBR/F 15W *1.1T *480mm 

Shinetsu ST-15DG 

MASPRO 4SPFW 

Anywire BL227XB-K02VL-P 

ARIMITSU RG-313R 

HIOKI L2100 

JEOL NO.804500070 

HIOKI U8552 

ASAHIENG HSM-5028H