LH-200J非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm
LH-373测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2％1000 µm以上±3％分辨率小于100 µm 0.1微米.
日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

日本KETT涡流膜厚仪LH-200J 

型号	LH-200J
测量方式	涡流类型
测量目标	非磁性金属上的绝缘涂层
测量范围	0-800µm或32.00mils
测量精度	小于50μm	±1微米
	50μm以上	±2％
解像度	小于100μm	0.1微米
	100μm以上	1.0微米
符合标准	JIS K5600-1-7，JIS H8680-2，JIS H8501 ISO2808，ISO2360，ISO2064，ISO19840 BS3900-C5，ASTM D7091-5
统计功能	测量数量，平均值， 大/小标准偏差，程序段号
探针	一点接触恒压型（LHP-J）
显示方式	数字（LCD，小显示数字为0.1µm）
外部输出	RS-232C接口（传输速度2400bps）
电源供应	100 V AC（50/60 Hz）或 1.5 V电池（AA碱性）x 6打印机x 4
尺寸图	120mm（宽）×250mm（深）×55mm（高）
弥撒	1.0公斤
配件类	标准板，铝基板，标准板盒 电池1.5V（AA碱性），探头适配器 交流适配器，打印机纸，手提箱

 

日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

 

■规格型号LH-200J测量方法涡流法测量非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm 50µm ...

0R规格型号LH-373测量方法涡流法测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2％1000 µm以上±3％分辨率小于100 µm 0.1微米...