TOP MINI便攜式X射線衍射儀

便攜性

無需樣品制備工藝，可直接對礦物進行測量，同時也具有體積小、重量輕等特點，可以隨時隨地進行現(xiàn)場分析，便于現(xiàn)場快速決策。

自研分析軟件

配套自主知識產(chǎn)權XRD數(shù)據(jù)分析軟件包，可以完成物相鑒定及定量分析工作，可直接導入JADE。

快速在線分析

較高的信噪比，提高采樣效率，數(shù)據(jù)采集時間15~20 分鐘。(半導體樣品小于 5 分鐘)

先進的光路系統(tǒng)設計，物相定量分析達到臺式機的水平，檢出限大于 3wt.%，相對誤差優(yōu)于 10%

光源的穿透性高

Mo靶光源，能量更高，無需換靶即可完成絕大部分晶體測試，且可提高樣品的裝填厚度。

1、技術參數(shù)  技術參數(shù)

X光管靶材 Mo靶 額定功率 50 w (50kV, 1.0mA) 探測器 HPC二維探測器 探測器像素 1280*256 2θ 2.5~27.5° 角分辨率 0.25°(FWHM) 樣品量 約15mg 樣品顆粒 <120μm 樣品采集時間 600-1200s 外形尺寸 58cm×42cm×23cm（L*W*H） 凈重 20.0kg 工作環(huán)境挑戰(zhàn) 15~35℃ 散熱方式 自動控溫風冷裝置

3、技術優(yōu)勢

（1）靶材選用Mo靶（17.4keV），傳統(tǒng)的Cu靶(8.04keV)、Co靶(6.9keV)能量較 低，只適用于反射光路，對樣品架厚度及樣品裝填有較高要求，且當樣品中含 有Fe時，Cu靶會產(chǎn)生熒光效應，使結果失真。而TOPMINI采用透射光路，并配 備了0.3mm、0.5mm、0.8mm、2mm的不同厚度樣品架，且適用于所有常規(guī)粉末 樣品。

（2）準直管中加入了聚光鏡技術，將信號光強提升了5~6倍，正常工作的20W 即約相當于100W，并且提高了信噪比，使輸出譜圖更加準確。

（3）數(shù)據(jù)采集時間僅需10~20分鐘（半導體材料僅需5分鐘），具體采集時間可 根據(jù)需求自由調(diào)整。

（4）物相定量分析結果達到臺式機的水平，檢出限大于 3 wt.%，相對誤差 優(yōu)于10%。 （5）本產(chǎn)品數(shù)據(jù)采集范圍2.5~27.5°，可換算為Cu靶的5.5~62.2°，優(yōu)于現(xiàn)在主流 的5~55°。本產(chǎn)品可根據(jù)客戶需求選擇加裝XRF功能或額外加載第二個XRD探測 器，若加載第二個XRD探測器，數(shù)據(jù)采集范圍可與大型XRD相當，能完成結構 精修要求。

（6）采用HPC二維探測器，探頭與控制器分離設計，兩者總重只有380克，且 兩者價格基本一致。一般情況下，探測器發(fā)生損壞時，很少是兩者同時損壞，因此HPC探測器損壞維修時所需費用要遠遠低于CCD探測器。

（7）強大的數(shù)據(jù)分析軟件包，配套了ICDD和COD兩套數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)客戶習 慣自行選用，同時專門設計了常用礦物數(shù)據(jù)庫，以便一鍵得出錄井現(xiàn)場樣品層 段基本物相情況，可同時適用于實驗室與錄井現(xiàn)場的工作條件。同時，本產(chǎn)品 數(shù)據(jù)皆為最為通用的格式，客戶可根據(jù)自己的要求選用習慣的分析軟件。

（8）整機手提箱大小，無任何運動部件，無需定期標定，結構牢固可靠，可適 應條件溫度內(nèi)的任何工作環(huán)境