目录:深圳乔邦仪器有限公司>>电镀镀层膜厚分析仪>> 国产x射线镀层膜厚测厚仪
| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业,电子/电池,包装/造纸/印刷 |
国产x射线镀层膜厚测厚仪性能特点
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作安全方便
x射线镀层膜厚测厚仪三重安全?；つＪ?br style="-webkit-tap-highlight-color: transparent; appearance: none; margin: 0px;"/>整体钢架结构、外型高贵时尚
FP软件，无标准样品时亦可测量
国产x射线镀层膜厚测厚仪技术指标
型号：XU-100x射线镀层膜厚测厚仪
分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，*小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
仪器重量：40kg
应用领域
x射线镀层膜厚测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。
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