目录:深圳乔邦仪器有限公司>>电镀镀层膜厚分析仪>> XTU镀层测厚仪
| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业,电子/电池,包装/造纸/印刷 |
技术参数
型号：XTU
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
产品名称：镀层测厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
相互独立的基体效应校正模型。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：35kg
标准配置
开放式样品腔。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
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双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
计算机及喷墨打印机
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
性能特点
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器?；?/span>
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
应用领域
镀层测厚仪以其快速、、操作简单等特点被广泛应用于电子电器、五金工具、卫浴产品、半导体、电子连接器、高压开关等企业及相关企业中，得到了客户的广泛认可。
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