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| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產業(yè),能源,電子/電池,紡織/印染 | 溫度范圍 | -70℃~150℃ |
產品簡介
詳細介紹
可程式高低溫試驗箱適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等，同時通過該試驗，提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。是航空、汽車、家電、科研等領域需備的測試設備，考核和確定電工、電子、半導體、通訊、光電、電器、汽車電器、材料等產品，在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境快速變化后的參數(shù)及性能，使用的適應性，適用于學校，工廠，軍工，研發(fā)等單位。
可程式高低溫試驗箱產品性能
有效容積408L
內箱尺寸：600*850*800mm寬高深
溫度范圍 | -70℃~+150℃ |
升溫速率 | 3.2℃/分鐘（非線性空載） RT（常溫）—150℃（約）30分鐘 |
降溫速率 | 1.0℃/分鐘（非線性空載） RT（常溫）— -70℃（約）90分鐘 |
解析精度 | 0.01℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃ |
電源 | AC三相五線 380V 50Hz（電壓波動≤±10%） |
功率 | 最大有效功率8.0KW |
設備重量 | 380kg |
滿足試驗標準 | GJB150.3-2009高溫試驗 GJB150.4-2009低溫試驗 GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件； GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）; GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）； GB/T 2423.22-2012電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）； GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗； GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗； |
冷卻方式 | 設備采用/風冷式 |