产品简介
质普仪,光谱仪,色谱仪,ROHS指令分析仪器,
详细介绍
天瑞金属镀层膜厚测厚仪器厂
型号:Thick 800A X荧光 镀层测厚仪
卖点:(提供主要卖点以及这个卖点的详细说明)
1.电镀行业者
2.可分析高5层25种元素镀层
3实现对多镀层样品的精准分析
4.方便用户观测样品状况
5.针对不规律测样品检测
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
SDD探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
天瑞金属镀层膜厚测厚仪器
thick8000 是天瑞仪器*新款的上海电镀层厚度测试仪,三维移动平台和高清射线系统,使整个测试更加精确、清晰。上海电镀层厚度测试仪是天瑞仪器的优势产品,打破了国 外垄断的局面,主要用于金属镀层——镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀银,镀铑,镀钯等厚度的检测,广泛应用在电器电器、五金工具、汽车配件、高压开关、 制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴、PCB线路板等企业.
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
的微孔准直技术:*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm
SDD探测器:分辨率低至135eV
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
同时检测元素:*多24个元素,多达5层镀层
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
天瑞金属镀层测厚仪器
若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同,所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
下 述可描述X-射线荧光的特性:若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射,此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%,而Lβ辐射能量较Lα大约20%,所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。