Mitutoyo三丰明视场物镜378-845-7

明暗视场用物镜
BD Plan Apo /
BD Plan Apo HR
FS70 MF-U Hyper MF-U

 BD Plan Apo HR
BD Plan Apo HR 50× 378-845-7 0.75 5.2 4 0.4 0.49 0.48 0.10×0.13 530
BD Plan Apo HR 100× 378-846-7 0.90 1.3 2 0.3 0.34 0.24 0.05×0.06 545

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NA=Numerical Aperture的略语
数值孔径NA是决定物镜分辨力、焦深、图像亮度的重要数值。
数值孔径NA通过下列公式来表示，其数值越大，就越能得到高分辨力、焦深浅的图像
n是物镜顶端与工件之间的媒介具有的屈光率，在空气中n=1.0。是通过物镜外侧的光线与镜头中心（光轴）之间形成的角度
R=Resolving power的略语
能够将离得很近的点或线区分开来的小间隔叫做分辨力，表示解像度的极限。
分辨力(R)由数值孔径NA和波长(λ)来决定
W.D.=Working Distance的略语
是指对准焦点时从试样上表面到物镜前端的距离
齐焦距离
是指对准焦点时，从试样上表面到物镜安装位置的距离

无限远校正光学系统
把使用物镜和成像镜头成像的光学系统叫做无限远校正光学系统

有限远校正光学系统
单独用物镜成像于有限的位置上的光学系统叫做有限远校正光学系统
f=focal length的略语
主点到焦点的距离。f1是物镜的焦点距离，f2是成像镜头的焦距。由物镜与成像镜头的焦距比决定倍率（无限远校正光学系统）
焦点
光学系统中相对于无限远物点的共轭点。
物方空间中有无限远物点的焦点叫做像方焦点。像方空间中有无限远物点的焦点叫做物方焦点。
物方焦点也叫前聚焦点，像方焦点也叫后聚焦点
焦深

 
紧凑、轻巧的相机观察显微镜
适用于金属、树脂、印刷表面、微小运动物体等各种观察对象。
·适用于使用YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)的微细加工※ ※不保证激光振荡器配备系统的综合性能和安全性。
半导体电路的切割、修整、修正、打标、薄膜(绝缘膜)的去除和加工、液晶彩色滤光片等的修复(修正缺陷)等。
·适用于红外光学系统※
硅类的内部观察、红外光谱特征分析等。※另需红外光源和红外摄像机等。
·反射照明光学系统标配带孔径光阑远心照明
需要均匀照明的图像处理。可用于尺寸测量、形状检查、定位等。
·VMU-LB和VMU-L4B强化了显微镜主体的刚性和综合性能(与以往产品相比)
·除标准规格外，还可按照需求设计制作双相机、双倍率(低倍率、高倍率)等产品

Mitutoyo三丰明视场物镜378-845-7