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每种芯片产量少则几千件，多则上万件。所有的芯片需要全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级?？突б酝墓ぷ鞣绞绞遣捎?/span>芯片检测影像测量仪，一个一个进行人工操作测量分级，这对客户来说无疑是巨大的工作量。面对与日俱增的工作量，对检测及分拣自动化提出了要求。
自动软件自动影像加探针和激光位移器测量应用软件，可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测，也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业，如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业?？刹饬康牟牧习ń鹗?塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等;
芯片检测影像测量仪技术参数：
工 作 台 | 仪器型号 | EVM-1510G | EVM-2010G | EVM-2515G | EVM-3020G | EVM-4030G |
金属台尺寸(mm) | 354×228 | 404×228 | 450×280 | 500×330 | 606×466 | |
玻璃台尺寸(mm) | 210×160 | 260×160 | 306×196 | 350×280 | 450×350 | |
运动行程(mm) | 150×100 | 200×100 | 250×150 | 300×200 | 400×300 | |
仪器重量(kg) | 100 | 110 | 120 | 140 | 240 | |
外型尺寸L*W*H | 756×540×860 | 670×660×950 | 720×950×1020 | |||
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