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LIP 211，LIP 281，LIP 291 增量式直线光栅尺，精度高和重复精度高
? 测量步距可达0.001 µm（1 nm）或更小
? 用于高运动速度和大测量长度
? 测量基准用固定架固定
? 由光栅尺和读数头组成
产品分类品牌分类
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IFM变送器 IFM断路器 IFM解调器 IFM摄像机 IFM控制器 IFM电缆 IFM压力变送器 IFM超声波流量传感器 IFM压缩空气流量计 IFM振动变送器 IFM加速计 IFM振动传感器 IFM标签 IFM阅读器 IFM读写头 IFM主机 IFM网关 IFM旋入式传感器 IFM液位传感器 IFM控制面板 IFM流量计 IFM流量变送器 IFM超声波流量计 IFM涡街流量计 IFM电磁流量计 IFM压力计 IFM压力传感器 IFM控制阀 IFM安全光栅 IFM安全光幕 IFM3D摄像机 IFM传感器 IFM3D传感器 IFM开关 IFM?？?/a> IFM分配器 IFM延伸器 IFM转换器 IFM继电器 IFM显示器 IFM速度监控器 IFM编码器 IFM放大器 IFM触摸式传感器 IFM对比传感器 IFM彩色传感器 IFM光纤放大器 IFM激光传感器 IFM光电式传感器 IFM温度传感器 IFM气缸传感器 IFM速度传感器 IFM磁性传感器 IFM电容式传感器 IFM电感式传感器 IFM位置传感器 IFM倾角传感器
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产品简介
详细介绍
测量原理 测量基准
海德汉公司的光学扫描光栅尺或编码器的 测量基准都是周期刻线－光栅。 这些光栅刻在玻璃或钢材基体上。大长 度测量用的光栅尺带的基体为钢带。 海德汉公司用以下特别开发的光刻工艺 制造精密光栅。
• AURODUR：在镀金钢带上蚀刻线条， 典型栅距40 µm
• METALLUR：抗污染的镀金层金属线， 典型栅距20 µm
• DIADUR：玻璃基体的超硬铬线（典型栅 距20 µm）或玻璃基体的三维铬线格栅 （典型栅距8 µm）
• SUPRADUR相位光栅：光学三维平面格 栅线条；*抗污能力；典型栅距不超 过8 µm
• OPTODUR相位光栅：光学三维平面格栅 线条，超高反光性能，典型栅距不超过 2 µm 这种方法除了能刻制栅距非常小的光栅 外，而且刻制的光栅线条边缘清晰、均 匀。再加上光电扫描法，这些边缘清晰 的刻线是输出高质量信号的关键。 母版光栅采用海德汉公司定制的精密 刻线机制造。
测量法
测量法是指编码器通电时就立即提供 位置值并随时供后续信号处理电子电路读 取。无需移动轴执行参考点回零操作。绝 对位置信息来自光栅码盘，它由一系列绝 对码组成。单独的增量刻轨信号用于在细 分后得到位置值，同时也生成供选用的增 量信号（与接口类型有关）。
增量测量法
增量测量法的光栅由周期性刻线组成。位 置信息通过计算自某个设置的原点开始的 增量数（测量步距数）获得。由于必须用 参考点确定位置值，因此测量基准的 光栅尺上还刻有一个参考点轨。参考点确 定的光栅尺带的位置值可以精确到一 个信号周期。因此，必须通过扫描参考点 建立基准点或确定上次选择的原点。 差情况时，机床需要移动测量范围上的 较大部分。为加快和简化“参考点回零” 操作，许多海德汉光栅尺刻有距离编码参 考点，这些参考点彼此相距数学算法确定 的距离。移过两个相邻参考点后（一般只 需运动数毫米）（见下表），后续电子电 路就能找到参考点位置。
heidenhain海德汉光栅尺LIP 201精度0.001µm
LIP 211，LIP 281，LIP 291 增量式直线光栅尺，精度高和重复精度高
• 测量步距可达0.001 µm（1 nm）或更小
• 用于高运动速度和大测量长度
• 测量基准用固定架固定
• 由光栅尺和读数头组成
如有需要详情，请见： heidenhain海德汉光栅尺LIP 201精度0.001µm