目录:上海励典科技有限公司>>人工晶状体检验设备>>人工晶状体低测力测厚仪>> ET3-IOL人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
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人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）产品特点：
探针自动上下，可由按钮控制或脚踏开关（选配）控制
人工晶状体中心厚度测量仪（低测力）可选配：
RS232电脑通讯接口
数据采集软件
校准套件（测厚+测力）
脚踏开关
技术参数：
测量范围：0-1999微米
测量分辨率和重复性：1微米
测量精度：±2微米（±1微米加上±1微米四舍五入）
探针测力：可调整，出厂设置为约0.5gm
标准测座：直径12.7mm，平面
显示：3.5位0.75吋液晶屏，每秒刷新3次
调零：旋钮调整约±15微米
测头：2.3mm直径顶部平整抛光
电源：220VAC，50Hz，5VA
输出：25针RS232电脑端口（选配）
环境：15~30℃，大90%相对湿度
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