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IC芯片缺陷X-RAY檢測給電子元件進行X-RAY透視的X光檢測儀被廣泛的應(yīng)用于電池、LED、SMT、半導體、鑄造、汽車電子、陶瓷產(chǎn)品、塑膠、接插件等行業(yè)一種精密檢測設(shè)備?;旧鲜忻嫔?成以上的X-RAY設(shè)備均采用以上4個基本結(jié)構(gòu),可能部分設(shè)備具體結(jié)構(gòu)有一定出入,但基本機械原理變化不大。
由于技術(shù)的改進,元器件的外形越來越逼真,數(shù)量越來越大,而且鑒別難度也日益增加。目視檢查幾乎已經(jīng)不能檢測到產(chǎn)品。因此鑒別可疑元器件需要通過專業(yè)測試儀器和手段進行測評,如掃描電子顯微鏡檢查、X光透視、顯微切片、掃描電鏡/能譜、芯片開封、掃描超聲顯微鏡、伏安曲線追蹤儀等。
微焦點X-RAY透視檢測設(shè)備是集現(xiàn)代無損檢測、計算機軟件技術(shù)、圖像采集處理技術(shù)、機械傳動技術(shù)為一體,涵蓋了光、機、電和數(shù)字圖像處理四大類技術(shù)領(lǐng)域,通過不同材料對X射線的吸收差異,對物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行成像然后進行內(nèi)部缺陷檢測,能夠?qū)崟r觀測到產(chǎn)品的檢測圖像,判定內(nèi)部是否存在缺陷及缺陷類型和等級,同時通過計算機圖像處理系統(tǒng)完成對圖像的存儲和處理,以提高圖像的清晰度,保證評定的準確性。
設(shè)備構(gòu)成:
本設(shè)備由X射線機系統(tǒng)、數(shù)字成像系統(tǒng)、計算機圖像采集及處理系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)、機械傳動系統(tǒng)、射線防護系統(tǒng)及其它部分等構(gòu)成。
設(shè)備采用進口品牌一體化微焦點透射式X射線管、進口品牌高分辨率平板探測器成像系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點:
●90-130KV 3-5μm X射線源;
●高分辨率FPD探測器;
●高達1000X放大倍率,高清晰實時成像;
●7軸聯(lián)動,多視角傾斜檢測;
●可離線編程,導航模式檢測。
名稱 | 整機狀態(tài) | 尺寸 | 1900kg | |
電源電壓 | 1.6kW | |||
封閉型 Closed | ||||
電壓 | 40W | |||
焦點尺寸 | X射線系統(tǒng) | 成像器 | 22寸顯示器 22"LCD | |
系統(tǒng)放大倍率 | 檢測區(qū)域 | 載物尺寸 | 450mm x 450mm | |
< 1uSv/h |
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