HAD-Y2858系列介電常數(shù)測(cè)試儀由頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

HAD-Y2858系列介電常數(shù)測(cè)試儀作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對(duì)緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。

HAD-Y2858系列中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

1 點(diǎn)：
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～10⁵

2 主要標(biāo)：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體緣材料測(cè)試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測(cè)試。

2.1.2 ε和D測(cè)量范圍：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測(cè)量度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

2.2頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號(hào)	HAD-Y2817	HAD-Y2818A
作頻率范圍	100Hz～100kHz（6個(gè)頻點(diǎn)）度：±0.05%	20Hz～1MHz 數(shù)字合成，度：±0.02%
電容測(cè)量范圍	0.0001pF～99999μF 四位數(shù)顯	0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測(cè)量基本誤差	±0.05%	±0.05%
損耗因素D值范圍	0.0001～9.9999 四位數(shù)顯	0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電）

2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合

加溫控溫裝置(選購(gòu)設(shè)備)可以成200℃控溫度l℃加熱測(cè)試

HAD-Y918 介電常數(shù)測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電，能對(duì)直徑φ10～56mm，

厚度<10mm的試樣測(cè)量。它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電法，薄膜電法和

非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m

2.4.4 使用頻率：30MHz

2.5 頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定為頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石，石英玻璃，

氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。

用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

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