真空衰減法是參照標(biāo)準(zhǔn)《ASTM F2338-09(2020) Standard Test Method for Nondestructive Detection of Leaks in Packages by Vacuum Decay Method》開發(fā)的測(cè)試儀器，用于檢測(cè)無菌包裝容器密封完整性
真空衰減法是參照標(biāo)準(zhǔn)《ASTM F2338-09(2020) Standard Test Method for Nondestructive Detection of Leaks in Packages by Vacuum Decay Method》開發(fā)的測(cè)試儀器，用于檢測(cè)無菌包裝容器密封完整性。
應(yīng)用范圍
真空衰減法采用真空衰減法測(cè)試原理，可用于檢測(cè)水針/凍干西林瓶、空注射器、預(yù)灌封注射器、液體充填包裝、其他軟包裝或硬包裝容器的密封完整性。廣泛應(yīng)用于藥包材生產(chǎn)廠家、制藥廠家、質(zhì)檢系統(tǒng)、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、大中專院校、科研院所等單位的容器包裝產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)。
主要特點(diǎn)
? 智能化嵌入式操作系統(tǒng)，人性化界面設(shè)計(jì)，所見即所得；
? 8英寸彩色液晶電容觸控屏，高清顯示，便捷觸控；
? 測(cè)試腔體采用316L不銹鋼材質(zhì)，內(nèi)部拋光處理，耐腐蝕，易清潔；
? 外殼采用304不銹鋼材質(zhì)，易清潔，無污染；
? 一體式氣路設(shè)計(jì)，提高測(cè)試穩(wěn)定性；
? 電磁閥采用SMC中真空直動(dòng)式，執(zhí)行速度更高；
? 采用絕壓、差壓雙觸感器測(cè)試技術(shù)；
? 可測(cè)出泄漏率低至0.01sccm;
? 測(cè)試無需準(zhǔn)備樣品，真正無損檢測(cè)方式；
? 標(biāo)準(zhǔn)配置微型打印機(jī)，隨時(shí)打印實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)；
? 標(biāo)準(zhǔn)RS232數(shù)據(jù)通信接口，方便數(shù)據(jù)導(dǎo)出與上位機(jī)連接；
? 系統(tǒng)滿足GMP權(quán)限管理和審計(jì)追蹤要求，滿足注射劑一致性評(píng)價(jià)要求；
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)試系統(tǒng) 雙傳感器測(cè)試技術(shù)
測(cè)試方法 差壓
真空衰減法
參照標(biāo)準(zhǔn) ASTM F2338-09（2020）
顯示屏 8英寸電容觸摸屏
極限真空范圍 10Pa(0.1mbar)
測(cè)試靈敏度 可檢測(cè)出0.01ccm泄漏率（相當(dāng)于理論漏孔1.0微米）
測(cè)試結(jié)果顯示 合格/不合格
權(quán)限管理 4級(jí)權(quán)限管理（可定制）
數(shù)據(jù)導(dǎo)出 測(cè)試數(shù)據(jù)可導(dǎo)出至上位機(jī)
系統(tǒng)升級(jí) 儀器可通過數(shù)據(jù)接口在線升級(jí)系統(tǒng)軟件
測(cè)試腔開啟方式 標(biāo)配手動(dòng)開啟（也可配置自動(dòng)方式）
外形尺寸 350mm(L)×560mm(D)×320mm(H)
電源 220VAC，50Hz
凈重 36kg
氣源 標(biāo)配無需氣源（測(cè)試腔如采用自動(dòng)方式配置常規(guī)氣源0.8MPa）
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
《ASTM F2338-09(2020) Standard Test Method for Nondestructive Detection of Leaks in Packages by Vacuum Decay Method》；
《YY/T 068/1.18-2020無菌醫(yī)療器械包裝試驗(yàn)方法第18部分:用
真空衰減法無損檢驗(yàn)包裝泄漏》；
產(chǎn)品配置
標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī)、真空泵、測(cè)試腔；
選購件 可調(diào)漏孔（用于隨時(shí)校準(zhǔn)儀器）；
主要適用于檢測(cè)包裝的完整性，通過測(cè)試判斷包裝是否存在泄漏問題。原理編輯密封測(cè)試儀連接到一個(gè)測(cè)試室，特別設(shè)計(jì)來容納需要被檢測(cè)的包裝。包裝被置于要被抽真空的實(shí)驗(yàn)腔內(nèi)。單或雙真空傳感器技術(shù)用于監(jiān)控測(cè)試室為兩個(gè)層次的真空狀態(tài)同樣也監(jiān)測(cè)預(yù)定測(cè)試時(shí)間段的真空變化，真空和相對(duì)真空的變化暗含了包裝中存在的泄漏和缺陷。
