使用X射线荧光光谱仪（XRF）测量金属化膜电容器镀层中的铝（Al）和锌（Zn）含量是一种快速、无损、高效且广泛应用的技术。以下是其应用、原理、优势及注意事项的详细说明：

    X射线荧光光谱仪（XRF）?核心原理

1. 激发：XRF仪发出高能初级X射线束，照射到样品（电容器的金属化膜）表面。

2. 电离：初级X射线使样品表层（通常几微米深度）元素的内层电子（如K层或L层）被激发弹出，形成空穴。

3. 驰豫发射：处于不稳定状态的原子外轨道电子向内跃迁填充空穴时，会释放出特定能量的二次X射线（特征X射线荧光）。

4. 检测分析：探测器接收这些发出的特征荧光X射线。不同元素具有特定的特征X射线能量（或波长）：

o 铝：Kα线约为1.486 keV（或Lα线约1.487 keV）。

o 锌：Kα线约为8.638 keV。

5. 定量：通过测量Al和Zn特征峰线的强度（谱图中峰的面积或高度），结合校准曲线（使用已知含量的标准样品建立），即可计算出镀层中铝和锌的质量百分比（重量%）或在镀层厚度方向上的含量分布（通过深度剖析模式）。

金属化膜电容器成分分析仪天瑞仪器  产品说明、技术参数及配置