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产品简介
X荧光硅铝分析仪 煤炭分析设备 仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用，可与配料系统联网，实现自动控制。
详细介绍
X荧光硅铝分析仪 煤炭分析设备
公司拥有一支综合素质高、专业能力强、工作经验丰富的精英团队。不断的跟踪分析新的市场需求，及时的调整产品结构，开发新的功能。在日新月异的科技发展中，始终走在技术开发前沿，保持技术领域的地位，从而推出更专业、更适合人们热值化验需要的产品。公司的快速发展，得到广大客户的认可。公司秉承“以质量求生存、以信誉求发展、用心服务、客户至上”的宗旨，为用户提供优质的产品和完善的售后保障。
X荧光硅铝分析仪 煤炭分析设备
商品详细介绍 X荧光硅铝分析仪
X荧光硅铝分析仪 性能特点：1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。 3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求?！ ?/p> 6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。 7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。 8、可与配料系统联网，实现自动控制。
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～* 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。 4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。 5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。 6、整机功耗: <30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg |
煤样的目的是将采集的煤样，经过破碎，混合和缩分等程序制备成能代表原来煤样的分析用煤样。制样方案的设计，是以获得足够小的制样方差和不过大的留样量为准。制样误差来源一般有两个方面：⑴系统误差，⑵缩分误差。系统误差必然导致测定结果不是偏高，就是偏低。它是由一些固定原因引起的，如：外部杂质的混入、制样过程中有细粉煤或水分的损失等，系统误差是可以消除的。缩分误差是随机的，原因是在缩分过程中，保留了一部分，舍弃掉另外一部分。一般来说，留样越少，这种误差越大，原则上，为了减少所分误差，在每步缩分钟，做好保留尽可能多的煤样，但在实践中，为了减少处理量，又要保留尽可能多的煤样。我国标准中规定过程中每一阶段的留样量取决于煤样的粒度。