在使用SEM力學(xué)樣品臺實(shí)驗(yàn)時(shí)，用戶選擇Push-to-Pull模塊可實(shí)現(xiàn)樣品拉伸實(shí)驗(yàn)，或者選擇加熱模塊可實(shí)現(xiàn)熱場和力場耦合實(shí)驗(yàn)，加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式（RT-1000℃，1K），或者選擇加電模塊（*大電壓±50V，電流范圍： pA~mA ）。SEM力學(xué)樣品臺可以應(yīng)用的范圍有：
1、材料力學(xué)研究
（1）力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究
（2）位錯(cuò)卒發(fā)研究
（3）應(yīng)力下的晶相轉(zhuǎn)變研究
（4）納米線、納米球的力學(xué)測試，剪切帶或者斷裂發(fā)生
（5）材料失效分析
2、材料力學(xué)測試
（1）壓痕測試
（2）拉伸測試（配拉伸臺）
（3）納米壓痕測試
（4）納米劃痕測試
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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