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標(biāo)樂(lè)Buehler 金相制樣

磨拋機(jī) 鑲嵌機(jī) 切割取樣 金相制樣耗材 材料試驗(yàn)機(jī)

徠卡Leica 顯微鏡

共聚焦顯微鏡 金相顯微鏡 視頻顯微鏡 立體顯微鏡 其他

徠卡Leica 電鏡制樣

超薄切片 冷凍制備 鍍膜/刻蝕/斷裂 離子束研磨

威爾遜

硬度計(jì)

形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量

專業(yè)便攜式三維掃描儀 其他相關(guān)設(shè)備

萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分

實(shí)驗(yàn)室研磨儀及粉碎儀 分樣儀，壓片機(jī)，干燥儀 篩分儀 & 分析篩

麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀

粒度和粒形分析器

埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀

CN分析儀 ONH 分析儀 CHS分析儀 TGA分析儀

卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐

真空爐 管式爐 箱式爐 烘箱

鼎竑離子減薄

輪廓儀 閃測(cè)儀 離子減薄儀 離子濺射儀 離子清洗儀

EM科特 臺(tái)式掃描電鏡

臺(tái)式掃描電鏡

美墨爾特

水浴/油浴 環(huán)境測(cè)試箱 培養(yǎng)箱 通用烘箱

微曠 高性能原位X射線CT

原位試驗(yàn)臺(tái) 工業(yè)CT 四維科研CT

英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試

動(dòng)態(tài)和疲勞測(cè)試系統(tǒng) 沖擊材料試驗(yàn)機(jī) 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)

業(yè)納 長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x器

軸類光學(xué)測(cè)量機(jī) 粗糙度輪廓儀 三維掃描儀 接插件在線測(cè)量機(jī)

澤攸科技掃描電鏡&臺(tái)階儀

掃描電鏡 臺(tái)階儀

島津Shimadzu 色譜

氣相色譜儀 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS) 色譜工作站 液相色譜儀 液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀

島津Shimazu 元素分析與光譜儀

X射線衍射儀 能量色散型X射線熒光光譜儀 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀 傅立葉變換紅外光譜儀 分光光度計(jì) 電感耦合等離子發(fā)射光譜/質(zhì)譜儀 光電直讀光譜儀 便攜式拉曼

島津Shimazu 表面分析

表面分析

島津Shimadzu 物理性分析

粒度分析儀 力學(xué)分析 熱分析儀

島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)

非破壞檢查裝置 氦質(zhì)譜檢漏儀

TQC /SHEEN涂料測(cè)試

表面測(cè)試 耐磨性測(cè)試 清潔度檢測(cè) 溫度檢測(cè) 光澤度測(cè)量 硬度測(cè)試 形變/彈性 色彩分辨 附著力測(cè)量 涂膜厚度 比重測(cè)量 細(xì)度測(cè)量 涂布打樣 粘度測(cè)量

其他設(shè)備

TMI 軟包表面性能測(cè)試 賽默飛世爾Thermo Fisher（FEI） 掃描電鏡 小坂Kosaka 表面測(cè)量?jī)x 阿朗Arun 直讀光譜儀 C&W 鹽霧箱 博勢(shì)Proceq巡鷹智檢 便攜硬度及探傷 Systech Illinois 微量氧微量水測(cè)試 飛馳Fritsch 球磨粉碎與粒度分析 賓得測(cè)試箱 Hentec Industries 可焊性測(cè)試系統(tǒng) Messmer Büchel 軟包強(qiáng)度測(cè)試 CMC-KUHNKE 金屬罐體檢測(cè)測(cè)試 Ray-Ran 高分子聚合物測(cè)試 Eagle Vision 包裝表面視覺(jué)檢測(cè) TM Electronics 檢漏儀 頗爾Pall 過(guò)濾與分離

金相切片耗材

砂紙 金剛石磨盤 金剛石拋光液

INSTEC 冷熱臺(tái)

美國(guó)標(biāo)樂(lè)

Leica/徠卡

美國(guó)威爾遜

CREAFORM/形創(chuàng)

Retsch/德國(guó)萊馳

Carbolite Gero/卡博萊特 蓋羅

Eltra/埃爾特

鼎竑

MEMMERT/德國(guó)美墨爾特

EM科特

TQC Sheen

SHIMADZU/島津

其他品牌

Instron/英斯特朗

Hexagon/海克斯康

JENOPTIK/德國(guó)

Instec/美國(guó)

CHOTEST/中圖儀器

Microtrac/麥奇克

KOSAKA/小坂研究所

ZEPTOOLS/澤攸科技

ARUN/阿朗科技

Binder/德國(guó)賓德

ZEISS/蔡司

Proceq/瑞士博勢(shì)

微視（HM）