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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 仪器种类 | 实验室型 | 应用领域 | 环保,化工,生物产业,地矿,能源 |
产品简介
详细介绍
智能式硅酸根分析仪
GXF-221型智能式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根（SiO2）含量测定以及纯水制备过程中水质监测的*仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定 硅钼蓝光度法”。
本系列仪器可对检测过程中是否存在干扰进行判断，具有错误信息提示以保证采样数据有效。可对采样数据利用程序进行分析处理，提高了测量精确度，并将测量值存储及自动打印输出。仪器还具有自诊断功能。
GXF-221型硅酸根分析仪技术参数：
测量范围：0~200.0μg/SiO2
基本误差：≤±2.0%FS
重复性误差：≤±0.5%FS
短期漂移（60分钟）：≤±0.5%FS
长期漂移(24小时)：≤±2.0%FS
化学方法：硅钼兰光度法GB 12150—89
电源/功率：220V/45W
外型尺寸：长×宽×高：430×415×160（mm）
重量：11kg
数显式硅酸根分析仪 型号：GXF-215C
GXF-215C型数显式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根（SiO2）含量测定以及纯水制备过程中水质监测的仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定“(硅钼蓝光度法)”。
本系列仪器具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的?；?，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具保证。
技术指标：
型号 | GXF-215B硅酸根分析仪 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析仪 |
测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本误差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分钟） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
长期漂移 (24小时） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化学方法 | 硅钼兰光度法 GB 12150—89 | |
数显式高精度硅酸根分析仪（电厂专用）
GXF-215B型硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根（SiO2）含量测定以及纯水制备过程中水质监测的仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定 硅钼蓝光度法”。
本系列仪器具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的?；?，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具保证。
本系列仪器具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的?；?，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具保证。
技术指标：
型号 | GXF-215B硅酸根分析仪 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析仪 |
测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本误差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分钟） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
长期漂移 (24小时） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化学方法 | 硅钼兰光度法 GB 12150—89 | |