首页 >> 供求商机
SID4-eSWIR 短波红外波前传感器(波前分析仪)
【SID4-eSWIR简介】
随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。SID4-eSWIR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起，提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4-eSWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。
【关于Phasics】
Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。
一、 SID4-eSWIR 短波红外波前传感器(波前分析仪)主要特点
1.0至2.35 µm扩展波段全覆盖
80 x 64高相位分辨率
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷
二、SID4-eSWIR 波前传感器产品功能
波前像差测量
基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 |  |
三、SID4--eSWIR 波前传感器应用领域
激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统计量
四、SID4-eSWIR 波前传感器主要规格
| 波长范围 | 1 - 2.35 µm |
| 靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
| 空间分辨率 | 120 µm |
| 取样分辨率 | 80 x 64 |
| 相位分辨率 | < 6 nm RMS |
| 绝对精度 | < 40 nm RMS |
| 实时处理速度 | 10 fps (全分辨率下)* |
| 接口种类 | USB 2.0 |
五、更多参数选型
9