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東隆集團自研的光纖微裂紋檢測儀(OLI)是以白光干涉為原理, 利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。其測試長度由最初的6cm已升級至1m，我們研發(fā)工程師在攻克橫向測試長度升級的同時也在不斷研究拓展縱向探測深度，現(xiàn)在光纖微裂紋檢測儀(OLI)測試深度已由-80dB正式升級至-90dB。
圖1.低成本光纖微裂紋檢測儀(OLI)
下面我們用光纖微裂紋檢測儀（OLI）測試波分復用器，OLI能明顯測試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。
圖2.-90dB探測深度
本次，光纖微裂紋檢測儀(OLI)測量深度從-80dB新升級到-90dB，采用全新的光路設(shè)計以及更換鏈路模塊，完成這次-90dB測試深度升級，設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性都有所提升，因此光纖微裂紋檢測儀(OLI)1m測試長度搭配-90dB的探測深度能更大程度滿足客戶測試所需。
光纖微裂紋檢測儀又稱低成本光學鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點定位精度高達幾十微米，可探測到-90dB光學弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
產(chǎn)品特點：
? 超高采樣分辨率和定位精度
? 超寬動態(tài)范圍
? 可定制引纖長度，便于匹配實際測量環(huán)境
? 可定制掃描測量長度
? 支持多通道測量升級
產(chǎn)品應用：
? 光纖微裂紋檢測
? 硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
? FA光纖陣列鏈路性能檢測
? 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點、連接點性能檢測
