粒径分析仪是一种测量、呈现和报告特定粒子或者液滴群粒径分布的分析仪。粒径分析仪在过程开发以及颗粒系统质量控制方面起到重要作用，可建立起高效的过程和取得高质量的最终产品。
以往，采用取样与离线粒径分析仪（激光衍射、动态光散射、沉淀或筛余分析）进行产品质量控制。但是无论是常见的取样难题、对于加快过程开发的更大压力，还是对于一步到位过程的更大需求，均需要开发出原位粒径分析仪。由于能够测量过程中自然存在的颗粒，因此极大地提高了了解、优化和控制他们的颗粒和液滴系统的能力。
采用FBRM技术的ParticleTrack
实时粒径与粒数分析
采用FBRM®（聚焦光束反射测量）技术的ParticleTrack直接插入反应体系中，在全过程浓度下实时测量颗粒数量和粒径。随着实验条件的变化，科学家可以持续监控液滴、颗粒和颗粒结构，为获得具有所需属性的一致颗粒提供确认信息?；谔酵返腜articleTrack仪器采用FBRM技术，这是原位过程测量的行业标准。
采用 FBRM 技术 的 ParticleTrack G400 是直接插入到实验室反应器中的探头式仪器，以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒粒径及粒数变化。 随着实验条件的变化，持续监测颗粒、颗粒结构和液滴为科学家提供足够证据以获得具有所需属性的一致颗粒。
颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能，包括结晶、乳化和絮凝。 通过实时监测颗粒粒径与粒数，科学家能够使用基于证据的方法自信地了解、优化和放大实验过程。
在为离线分析进行采样和制备时，颗?？赡芊⑸浠?通过追踪过程中自然存在的颗粒的粒径与粒数的变化，科学家能够安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极温度与压力条件下。
随着实验条件的变化，通过连续监测颗粒，能够确定过程参数对颗粒粒径和粒数的影响。 这种特的信息可用于设计能够持续提供具有优化特性的颗粒的过程。
采用 FBRM 技术的 ParticleTrack G600 是直接插入到大型容器或管道中的坚固探头式仪器，以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒粒径及粒数变化。 随着过程参数的变化，持续监测颗粒、颗粒结构和液滴允许工程师有效地监控、解决并改进过程。
颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能，包括：
通过在全生产规模下实时监测颗粒粒径与粒数，工程师可以监控过程的一致性并确定进行过程改进的策略。
在为离线分析进行采样和制备时，颗粒可能发生变化。 通过追踪过程中自然存在的颗粒粒径与粒数的变化，工程师能够在全生产规模下安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在端温度与压力条件下。
随着操作条件的变化，通过连续监测颗粒，能够确定过程性能不佳的根本原因。 操作人员可以快速识别过程扰动，工程师可以利用在全生产规模下获得的证据，重新设计具有挑战性的过程并加以改进。
灵活的安装系统允许在各种温度和压力下，使用标准法兰、套管和球阀在反应器或管道中安装探头。 额定为 ATEX 和 I 级 1 区标准的可选吹扫外壳确保仪器可以在易爆场所进行安全安装。
实验室中 ParticleTrack G400 的常见应用包括：
ParticleTrack G400 的主要特征：
设计紧凑，具有便携性，占用较小空间的实验室
探头可互换，可用于范围广泛的实验室规模（10mL 至 2L）
与 OptiMax 和 EasyMax 合成工作站无缝集成，进行较佳的实验设置
iC FBRM 软件，进行快速、直观的颗粒数据分析
ParticleTrack G400 比以前的梅特勒托利多 Lasentec FBRM 技术（S400 和 D600）有了重大改进。
规格 - ParticleTrack G400
测量范围
| 0.5 – 2000μm
0.5-2000um
|
温度范围（主机/现场装置）
| 5 至35°C |
主机说明
| 实验室主机 |
基座尺寸 (长x高x宽)
| 492 mm x 89 mm x 237 mm |
认证
| CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 |
电源要求
| 100-240VAC, 50/60Hz, 1.2A |
适用于
| 实验室： EasyMax/OptiMax |
软件
| iC FBRM |
扫描系统
| 电子扫描仪 |
扫描速度
| 2m/s （19mm探头为1.2m/s） |
弦长选择方法(CSM)
| Primary（精细）和 Macro（粗糙） |
探头直径
| 19mm探头
9.5mm
14/9.5mm
|
探头浸湿长度
| 400mm （用于 19mm 探头）
206mm （用于 14/9.5mm 探头）
91mm （用于 9.5mm 探头）
|
探头浸湿合金
| C22 |
测量视窗
| 蓝宝石 |
标准窗口封条
| Kalrez® （标准 19mm）
TM（标准 14/9.5 ）
TM（标准9.5,14/9.5）
|
探头/窗口选件
| TM 窗口（用于19mm 探头的选件） |
额定压力（探头）
| 高达 100barg （自定义）
3barg （标准）
|
额定温度（探头）
| +10 至 90°C （标准）
-10 至 90°C （Kalrez 和清洗）
-80 至 90°C （TM 和清洗）
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导管长度
| 3m [9.8ft] |
空气要求
| 清洗歧管的最大出口压力： 0.8barg [12psig]
清洗歧管的最大入口压力： 8.6barg [125 psig]
低流量清洗（使用以避免冷凝物）
最大 流量： 5NL/min [0.2SCFM]
|
ParticleTrack型号
| ParticleTrack G400 |
实时研究颗粒粒径与粒数
科学家将 ParticleTrack 探头直接插入到过程流体中，以长时间连续监测颗粒粒径与粒数，而无需采样。 这种独的信息成为有效了解涉及晶体、颗粒和液滴的过程的基础。
借助 ParticleTrack将过程与颗粒系统相关联
，科学家可以定期确定过程参数如何影响颗粒系统。 可以确定过程参数对生长、团聚、破损和形状变化等机制的影响，从而可以使用基于证据的方法对过程进行优化和改进。
创建符合目的的颗粒系统
科学家使用 ParticleTrack 来确定如何稳定得到所需粒径和粒数的颗粒产品。 在研发、中试到投入生产的过程中，通过选择较佳的过程参数，科学家可以以较低的总成本快速向市场提供高品质的颗粒产品。
监测并纠正过程偏差
ParticleTrack 用于对生产中的既定过程进行监测、故障排除和改进。 可以安全地监测难以采样的复杂过程，确保一致地生产质量尽可能较高的颗粒。
具有 FBRM 技术的 ParticleTrack G400 未针对存在爆炸危险的位置进行评级。
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