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粉體的性能表征之--粒度及其分布電阻法顆粒計數(shù)器
粉體的表征主要包括，粒度及其分布、比表面積、團聚體的表征、顯微鏡結(jié)構(gòu)分析、成分分析、表面分析、靜態(tài)的表征、表面潤濕性的表征及表面吸附類型、包覆量與包覆率的表征等。本期簡述粉體粒度及其分布。
粉體(Powder)，就是大量固體粒子的集合體，它表示物質(zhì)的一種存在狀態(tài)，既不同于氣體、液體，也不*同于固體。微粉或超細粉一般是粒徑在100nm-10μm范圍的多顆粒集合體。
從激光器發(fā)出的激光束經(jīng)顯微鏡聚焦，針孔濾波和準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直后,變成直徑約10mm的平行光束。該光束照射到待測的顆粒上，一部分光被散射，散射光經(jīng)付里葉透鏡后，照射到光電探測器陣列上，由于光電探測器處在付里葉透鏡的焦平面上，因此探測器上的任一點都對應(yīng)于某一確定的散射角，換句話說，即對應(yīng)于某一尺寸大小的粒子。探測器將投射到其上面的散射光能線性的轉(zhuǎn)換成電壓，然后送給數(shù)據(jù)采集卡，卡將信號放大，再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后送入計算機，即可列表或畫圖得到粉體的粒徑的頻率分布和積累分布。
球形顆粒的比表面積SW與其直徑d的關(guān)系，測定粉體的比表面積可以根據(jù)上式求得顆粒的一種等當(dāng)量粒徑，即表面積直徑。
用一般的表征方法得到的是顆粒尺寸，而顆粒不一定是單個晶粒，X射線衍射線寬法測定的是微晶細晶粒尺寸。
庫爾特計數(shù)器又稱為電阻法顆粒計數(shù)器，是基于小孔電阻原理的超微顆粒粒度測量儀。一般能測量粒徑0.5-500μm的顆粒。這種粒度測定儀的主要特點是分辨率較高、測量速度快、重復(fù)性較好、操作簡便。