CLJ-E型（半导体激光）尘埃粒子计数器
激光尘埃粒子计数器 半导体激光埃粒子计数器
CLJ-E型激光尘埃粒子计数器用于测量洁净环境中单位体积空气内的尘埃粒子大小及数目，可直接检测洁净度等级为百级至*的洁净环境。本仪器采用了半导体激光光源，高亮度数码管显示，体积小、重量轻、检测精度高、功能操作简单明了，微处理器控制，可贮存、打印测量结果，可判定净化级别，测试洁净环境十分便利。

（半导体激光）尘埃粒子计数器型号：CLJ-E

（半导体激光）尘埃粒子计数器

该系列仪器的技术指标均满足国家计量总局颁布的 JJF1190-2008检定规程的要求，整机功能采用美国微电脑控制处理技术及**的SMT芯片贴片封装技术和半导体激光传感器技术及防噪声气泵，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计**、质量稳定可靠 
　　该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测超净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室、饮料包装环境，医疗器械生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门

主要技术参数及性能： 

1.光源: 全半导体 激光光源，进口二**管激光器 

2.采样量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 

3.检测范围: 100级～30万级 

4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L 

5.粒径通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档 
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m3所含颗粒数。 

7.采样周期: 1～10 (min) 

8.自净时间: ≤15 (min) 

9.校准：可追溯美国国家标准技术协会（NIST），我公司已通过国家计量建标考核，可追溯至上海计量测量技术研究院可自行进行校准或第三方国家计量机构进行校准 

10.工作环境: 温度:10～35℃    相对温度: 20～75%RH 

11.**大功耗: 25W 

12.测量温度和湿度的范围与精度：（选购） 

（1）         温度：0～50℃±1℃ 

（2）         湿度：0～100%RH±5% 

13.采样点数   2～7点设定 

14.每点采样次数   2～9次设定 

15.UCL报表：符合FS-209E、中国GMP的标准 

16.工作时间：8 小时 

17.电源： AC220V±10%    50±2Hz 

18.重量:4.8kg 

19.外形尺寸: 260×130×340 

20.六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示。 

21.备注: 内置打印机、自动判断净化等级、等动力采样头、采样架