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目錄:江蘇維林科生物技術(shù)有限公司>>質(zhì)譜>>二次離子質(zhì)譜>> PHI nanoTOF 3飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
  • 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 PHI nanoTOF 3
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市
屬性

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更新時(shí)間:2025-07-16 14:59:55瀏覽次數(shù):86評價(jià)

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價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 飛行時(shí)間
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,制藥/生物制藥,綜合
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 簡稱ToF-SIMS),使用一次脈沖離子轟擊固體材料表面,通過表面激發(fā)出的二次離子的飛行時(shí)間測量其質(zhì)量,以表征材料表面的元素成分、分子結(jié)構(gòu)、分子鍵接等信息??梢苑治鏊械膶?dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料。

*的離子束技術(shù),實(shí)現(xiàn)高空間分辨率

PHI nanoTOF3 能夠提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分析 :在高質(zhì)量分辨模式下,其空間分辨率優(yōu)于500 nm;在高空間分辨模式下,其空間分辨模式優(yōu)于50 nm。通過結(jié)合高強(qiáng)度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器,可以實(shí)現(xiàn)低噪聲、高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測量。

高空間分辨模式下脈沖束斑優(yōu)于50 nm

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀


Triple Ion Focusing Time-of-Flight (TRIFT)

—三重離子束聚焦質(zhì)量分析器

寬帶通能量、寬立體接受角度

—適用于各種形貌樣品分析


主離子束激發(fā)的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛出,特別是對于有高度差異和形貌不規(guī)則的樣品,即使相同的二次離子在分析器中會存在飛行時(shí)間上的差異,因此導(dǎo)致質(zhì)量分辨率變差,并對譜峰形狀和背景產(chǎn)栺影響。


TRIFT質(zhì)量分析器可以同時(shí)對二次離子發(fā)射角度和能量進(jìn)行校正,保證相同二次離子的飛行時(shí)間一致,所以TRIFT兼顧了高質(zhì)量分辨率和高檢測靈敏度優(yōu)勢,對于不平整樣品的成像可以減少陰影效應(yīng)。


全新的全自動樣品傳送系統(tǒng)

PHI nanoTOF3 配置了在XPS的Q系列上表現(xiàn)優(yōu)異的全自動樣品傳送系統(tǒng):最大樣品尺寸可達(dá)100 mmx100 mm,而且分析室標(biāo)配內(nèi)置樣品托停放裝置;結(jié)合分析序列編輯器(Queue Editor),可以實(shí)現(xiàn)對大量樣品的全自動連續(xù)測試。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀


采用新開發(fā)的脈沖氬離子槍

自動荷電雙束中和技術(shù)

TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品,而絕緣樣品表面通常有荷電效應(yīng)。PHI nanoTOF3 采用自動荷電雙束中和技術(shù),通過同時(shí)發(fā)射低能量電子束和低能量氬離子束,可實(shí)現(xiàn)對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中和,無需額外的人為操作。

※需要選配Ar離子槍

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

MS/MS平行成像

同時(shí)采集MS1/MS2數(shù)據(jù)

在TOF-SIMS測試中,MS1質(zhì)量分析分析器接收從樣品表面產(chǎn)生的所有二次離子碎片,對于質(zhì)量數(shù)接近的大分子離子,MS1譜圖難以區(qū)分。通過安裝串聯(lián)質(zhì)譜MS2,對于特定離子進(jìn)行碰撞誘導(dǎo)解離栺產(chǎn)特征離子碎片,MS2譜圖可以實(shí)現(xiàn)對分子結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步鑒定。

PHI nanoTOF3 具備串聯(lián)質(zhì)譜MS/MS平行成像功能,可以同時(shí)獲取分析區(qū)域的MS1和MS2數(shù)據(jù),為分子結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析提供了強(qiáng)有力的工具。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀


遠(yuǎn)程訪問實(shí)現(xiàn)對儀器的遠(yuǎn)程控制

PHI nanoTOF3 允許通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)訪問儀器。只需將樣品臺放入進(jìn)樣室,就可以對進(jìn)樣、換樣、測試和分析等所有操作進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。我們的專業(yè)人員可以對儀器進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷*。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀


多樣化配置充分發(fā)揮TOF-SIMS潛力


兼容多種儀器的樣品傳送管

樣品傳送管是專為大氣敏感類樣品所設(shè)計(jì)的樣品轉(zhuǎn)移裝置。通過該裝置可以實(shí)現(xiàn)在惰性氣體保護(hù)下的樣品制備與轉(zhuǎn)移,從而避免樣品在傳遞過程中接觸大氣。此外,樣品傳送管與PHI旗下多款XPS和AES設(shè)備相兼容,便于用戶使用多種表面分析技術(shù)進(jìn)行綜合分析。


進(jìn)樣室手套箱

可以選配直接連接到樣品進(jìn)樣室的可拆卸手套箱。鋰離子電池和有機(jī)OLED等容易與大氣發(fā)栺反應(yīng)的樣品可以直接安裝在樣品臺上。此外,在冷卻分析后更換樣品時(shí),可以防止樣品表面結(jié)霜。


加熱和冷卻樣品臺

樣品可以在測量位置加熱和冷卻。溫度在-150℃到200℃之間可控,從進(jìn)樣到測量,可隨時(shí)監(jiān)測和控制溫度。


用于曲面分析的樣品臺

可以在不受凹凸影響的情況下觀察曲面的樣品臺。對采譜的質(zhì)量范圍沒有限制,可以實(shí)現(xiàn)寬捕獲立體角和高精度質(zhì)譜分析。適用于球體、線材和纖維等樣品。


氬團(tuán)簇離子槍

使用氬團(tuán)簇離子束(Ar-GCIB)可以對有機(jī)材料進(jìn)行低損傷離子刻蝕,實(shí)現(xiàn)在保持有機(jī)化合物分子結(jié)構(gòu)的同時(shí)進(jìn)行深度剖析。


銫離子槍和氬/氧離子槍

可選配銫離子槍(負(fù)離子分析)和氧離子槍(正離子分析)作為濺射離子槍用于無機(jī)材料的高靈敏度分析,這兩種離子槍對相應(yīng)極性的二次離子具有增強(qiáng)效應(yīng)。



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