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深圳市秋山貿(mào)易有限公司
主營產(chǎn)品： 抹茶生產(chǎn)線,粉碎研磨珠,口紅硬度計(jì) |
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聯(lián)系電話
13823147203
公司信息
- 聯(lián)系人：
- 林經(jīng)理
- 電話：
- 手機(jī)：
- 13823147203
- 地址：
- 深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
- 郵編：
- 個(gè)性化：
- www.cnakiyama.com
- 貨物所在地：
- 廣東深圳市
- 更新時(shí)間：
- 2025-06-15 21:00:08
- 有效期：
- 2025年6月15日--2025年12月15日
- 已獲點(diǎn)擊：
- 97
節(jié)省空間小
極小的部件，具有出色的可操作性
以高精度測量
·使用雙重濾波器，以高精度和好條件進(jìn)行測量
- 即使在使用多任務(wù)功能進(jìn)行測量期間，也可以進(jìn)行其他處理，包括創(chuàng)建報(bào)告。
·小準(zhǔn)直器為0.05mm，可以測量極小的部件
日本DENSOKU電測X射線熒光膜厚度計(jì)COSMOS-3X
日本DENSOKU電測X射線膜厚度計(jì)COSMOS-3X
節(jié)省空間小
極小的部件，具有出色的可操作性
以高精度測量
日本DENSOKU電測X射線膜厚度計(jì)COSMOS-3X
·使用雙重濾波器，以高精度和好條件進(jìn)行測量
- 即使在使用多任務(wù)功能進(jìn)行測量期間，也可以進(jìn)行其他處理，包括創(chuàng)建報(bào)告。
·小的準(zhǔn)直器為0.05mm，可以測量極小的部件
X射線熒光膜厚度計(jì)COSMOS-3X的特點(diǎn)
采用雙濾波器
除數(shù)字濾波器外，還可以使用機(jī)械濾波器（雙濾波器）在好條件下進(jìn)行測量，以便始終獲得高精度。
增強(qiáng)的報(bào)告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強(qiáng)報(bào)告創(chuàng)建功能。多任務(wù)功能可以啟用其他過程，包括在測量期間創(chuàng)建報(bào)告。
內(nèi)置5種準(zhǔn)直器
準(zhǔn)直器的小部分為0.1φmm，可以測量極小的部件。標(biāo)準(zhǔn)，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，還有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護(hù)功能
自我診斷功能迅速處理設(shè)備故障解決。此外，它還通過添加顯示X射線管的使用時(shí)間和耐久時(shí)間的功能來支持維護(hù)安全性。
薄膜厚度測量期間的光譜顯示
通過多通道的頻譜分析的高速處理，通過簡單的操作來執(zhí)行被測對象的頻譜顯示。 （處理速度約2-3秒）
顯示測量單位的監(jiān)視圖像
將X射線照射單元導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射單元。實(shí)現(xiàn)放大倍率變化功能，通過準(zhǔn)直器改變尺寸。
使用Be window X射線管（可選）提高性能（高精度）
我們?yōu)闊晒釾射線膠片厚度計(jì)EX-731準(zhǔn)備了Be窗口X射線管（可選）。
是的。通過使用此選項(xiàng)，可以在Cr測量和Ni測量中重復(fù)測量精度
將大大改善。
關(guān)于績效改進(jìn)的評(píng)論
高能量（高原子序數(shù)）Sn測量與以前相同，但能量低（原子序數(shù)低）
No。）在Cr和Ni測量的情況下，根據(jù)膜厚度，Cr為3倍或更多，Ni為2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面層的Au的情況下，在兩層測量中，一點(diǎn)點(diǎn)
由于精度提高的貢獻(xiàn)，層間Ni已經(jīng)提高了約20％。 X射線熒光膜厚度計(jì)
在重復(fù)測量精度（標(biāo)準(zhǔn)偏差）的情況下，獲得產(chǎn)生熒光X射線強(qiáng)度的過程。
這是由于統(tǒng)計(jì)波動(dòng)，并應(yīng)用Be窗口X射線管（可選）
在Cr的情況下，它表明熒光X射線強(qiáng)度比傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器高約9倍。
有你。因此，可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行與之前相同精度的測量。
日本DENSOKU電測X射線熒光膜厚度計(jì)EX-731
以高精度測量極小部件，具有出色的可操作性
可以測量大尺寸的基礎(chǔ)
·使用雙重濾波器，以高精度和好條件進(jìn)行測量
- 通過將鼠標(biāo)定位在測量位置來實(shí)現(xiàn)快速定位
- 即使在使用多任務(wù)功能進(jìn)行測量期間，也可以進(jìn)行其他處理，包括創(chuàng)建報(bào)告。
·小的準(zhǔn)直器為0.05mm，可以測量極小的部件
X-7熒光膜厚度計(jì)EX-731的特點(diǎn)
采用雙濾波器
除數(shù)字濾波器外，還可以使用機(jī)械濾波器（雙濾波器）在好條件下進(jìn)行測量，以便始終獲得高精度。
自動(dòng)測量階段
通過將鼠標(biāo)移動(dòng)到測量位置來實(shí)現(xiàn)快速定位。此外，如果您注冊測量位置，則可以進(jìn)行連續(xù)自動(dòng)測量。通過坐標(biāo)校正和通道鏈接支持各種模式。標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)也可以自動(dòng)測量。
增強(qiáng)的報(bào)告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強(qiáng)報(bào)告創(chuàng)建功能。多任務(wù)功能可以啟用其他過程，包括在測量期間創(chuàng)建報(bào)告。
內(nèi)置5種準(zhǔn)直器
準(zhǔn)直器的小部分為0.1φmm，可以測量極小的部件。標(biāo)準(zhǔn)，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，還有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護(hù)功能
自我診斷功能迅速處理設(shè)備故障解決。此外，它還通過添加顯示X射線管的使用時(shí)間和耐久時(shí)間的功能來支持維護(hù)安全性。
薄膜厚度測量期間的光譜顯示
通過多通道的頻譜分析的高速處理，通過簡單的操作來執(zhí)行被測對象的頻譜顯示。 （處理速度約2-3秒）
顯示測量單位的監(jiān)視圖像
將X射線照射單元導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射單元。實(shí)現(xiàn)放大倍率變化功能，通過準(zhǔn)直器改變尺寸。
目測顯示被測物體的鍍層附著力分布
使用3D圖形顯示可以一目了然地看到被測物體的鍍層厚度分布。
使用Be window X射線管（可選）提高性能（高精度）
我們?yōu)闊晒釾射線膠片厚度計(jì)EX-731準(zhǔn)備了Be窗口X射線管（可選）。
是的。通過使用此選項(xiàng)，可以在Cr測量和Ni測量中重復(fù)測量精度將大大改善。
關(guān)于績效改進(jìn)的評(píng)論
高能量（高原子序數(shù)）Sn測量與以前相同，但能量低（原子序數(shù)低）
No。）在Cr和Ni測量的情況下，根據(jù)膜厚度，Cr為3倍或更多，Ni為2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面層的Au的情況下，在兩層測量中，一點(diǎn)點(diǎn)
由于精度提高的貢獻(xiàn)，層間Ni已經(jīng)提高了約20％。 X射線熒光膜厚度計(jì)
在重復(fù)測量精度（標(biāo)準(zhǔn)偏差）的情況下，獲得產(chǎn)生熒光X射線強(qiáng)度的過程。
這是由于統(tǒng)計(jì)波動(dòng)，并應(yīng)用Be窗口X射線管（可選）
在Cr的情況下，它表明熒光X射線強(qiáng)度比傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器高約9倍。
有你。因此，可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行與之前相同精度的測量。
請考慮采用這種Be窗口X射線管。
日本DENSOKU電測X射線熒光膜厚度計(jì)EX-851
自動(dòng)對焦
可以選擇兩種測量模式，使測量工作更加順暢
全自動(dòng)對焦模式
⇒用激光指示器設(shè)置要照射的物體并關(guān)閉門。
舞臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)和測量。
·半自動(dòng)對焦模式
⇒以與上面的全自動(dòng)對焦模式相同的方式設(shè)置測量對象。
¡當(dāng)門關(guān)閉時(shí)，舞臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)并聚焦。
直到手術(shù)。
X-8熒光膜厚度計(jì)EX-851的特點(diǎn)
自動(dòng)對焦
只需將測量部件移動(dòng)到激光指示器的位置，然后關(guān)閉門以自動(dòng)移動(dòng)到測量值并執(zhí)行測量。測量后，當(dāng)門打開時(shí)，舞臺(tái)自動(dòng)返回到前面。
自動(dòng)測量階段
通過將鼠標(biāo)移動(dòng)到測量位置來實(shí)現(xiàn)快速定位。此外，如果您注冊測量位置，則可以進(jìn)行連續(xù)自動(dòng)測量。通過坐標(biāo)校正和通道鏈接支持各種模式。標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)也可以自動(dòng)測量。
采用雙濾波器
除數(shù)字濾波器外，還可以使用機(jī)械濾波器（雙濾波器）在好條件下進(jìn)行測量，以便始終獲得高精度。
增強(qiáng)的報(bào)告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強(qiáng)報(bào)告創(chuàng)建功能。多任務(wù)功能可以啟用其他過程，包括在測量期間創(chuàng)建報(bào)告。
內(nèi)置5種準(zhǔn)直器
準(zhǔn)直器的小部分為0.1φmm，可以測量極小的部件。標(biāo)準(zhǔn)，0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外，還有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
·0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護(hù)功能
自我診斷功能迅速處理設(shè)備故障解決。此外，它還通過添加顯示X射線管的使用時(shí)間和耐久時(shí)間的功能來支持維護(hù)安全性。
薄膜厚度測量期間的光譜顯示
通過多通道的頻譜分析的高速處理，通過簡單的操作來執(zhí)行被測對象的頻譜顯示。 （處理速度約2-3秒）
顯示測量單位的監(jiān)視圖像
將X射線照射單元導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射單元。實(shí)現(xiàn)放大倍率變化功能，通過準(zhǔn)直器改變尺寸。
目測顯示被測物體的鍍層附著力分布
使用3D圖形顯示可以一目了然地看到被測物體的鍍層厚度分布。
使用Be window X射線管（可選）提高性能（高精度）
我們?yōu)闊晒釾射線膠片厚度計(jì)EX-731準(zhǔn)備了Be窗口X射線管（可選）。
是的。通過使用此選項(xiàng)，可以在Cr測量和Ni測量中重復(fù)測量精度將大大改善。
關(guān)于績效改進(jìn)的評(píng)論
高能量（高原子序數(shù)）Sn測量與以前相同，但能量低（原子序數(shù)低）
No。）在Cr和Ni測量的情況下，根據(jù)膜厚度，Cr為3倍或更多，Ni為2倍或更多。
返回精度得到了提高。在用于表面層的Au的情況下，在兩層測量中，一點(diǎn)點(diǎn)
由于精度提高的貢獻(xiàn)，層間Ni已經(jīng)提高了約20％。 X射線熒光膜厚度計(jì)
在重復(fù)測量精度（標(biāo)準(zhǔn)偏差）的情況下，獲得產(chǎn)生熒光X射線強(qiáng)度的過程。
這是由于統(tǒng)計(jì)波動(dòng)，并應(yīng)用Be窗口X射線管（可選）
在Cr的情況下，它表明熒光X射線強(qiáng)度比傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器高約9倍。
因此，可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行與之前相同精度的測量。
請考慮采用這種Be窗口X射線管。
