FS-PAR作物植物冠層分析儀

FS-PAR作物植物冠層分析儀可廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截，所以該儀器適用于比較低矮的作物，樹木等其他較高的植物，推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。

技術(shù)參數(shù)
測量范圍：0-3000μmol ㎡/秒
分辨率：1μmol ㎡/秒
響應時間：10μs                                  
自動采集間隔：1-99分鐘
自動采集次數(shù)：1-99次
數(shù)據(jù)存儲容量：2GB（標配SD卡）
儀器總長度：75 cm
探桿長度：50 cm
傳感器數(shù)量：25個（標配）
電源：2節(jié)5號電池
工作環(huán)境：0°C-60°C；100%相對濕度
應用范圍：
1.植物生長調(diào)節(jié)劑的評估
2.各種葉片病害的評估
3.實時監(jiān)測除草劑的應用效果
4.用于土壤改善和肥力的研究
5.葉面施肥的研究
6.灌溉日程安排的研究
7.干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響
8.不同基因型的特性
9.試驗地變異的評估
作物葉面積指數(shù)是描述作物冠層結(jié)構(gòu)的一個重要參數(shù)，作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關(guān)鍵生理過程，葉面積指數(shù)是許多作物生長模型、長勢評價模型、作物估產(chǎn)模型的重要參數(shù)。所以測量作物冠層具有重要的意義。

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