雷尼绍REVO多类型五轴测头

REVO®系统可在一台坐标测量机上执行高性能扫描测量、非接触式测量和表面粗糙度分析。

多类型传感器五轴测量系统

REVO系统采用同步运动和五轴测量技术，极大降低了坐标测量机在超高测量速度下的动态误差。

这是通过坐标测量机做慢速线性运动的同时由REVO-2测座完成要求的快速运动来实现的。采用灵活的端部感应技术进一步增强了系统的精度和性能?？刹鹦兜牟馔废低撑溆玫统杀窘换患埽岣吡讼低沉榛钚浴?/span>

速度、精度、灵活性

REVO®五轴测量系统可安装在新坐标测量机上，也可作为已获得认证的升级选件安装在现有坐标测量机上，其优点包括：

• 表面粗糙度检测和尺寸测量。
• 节省15%至50%的检测周期时间。
• 大幅提高效率，降低资金投入。

REVO-2测头选项

RSP2

RSP2是一种专门用于REVO系统的精巧的端部感应测头，能够进行2D扫描测量 (x, y) 和3D触发式测量。

RSP3

RSP3系列是RSP2测头的补充，为REVO系统提供3D扫描测量 (x,y,z) 能力，并可配用曲柄式测针。它用于三轴扫描测量，例如在测量过程中，使用固定的REVO测座角度。

SFP2

使表面粗糙度检测与坐标测量机的测量程序整合，可以在扫描测量与表面粗糙度检测之间自动切换。

RSP3-6

RSP3-6的测量能力增强，可深入较大工件的深孔检测相关特征。它配备直测针和星形测针，适合超长加长杆多角度测量应用，可用于触发式测量和2D扫描测量。

RVP

REVO-2 RVP将非接触式检测功能添加至REVO系统现有的触发式、高速接触式扫描测量和表面粗糙度测量功能中，可对不适合采用接触式测量的工件和特征进行全面检测。

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