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| 产地类别 | 进口 |
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产品简介
详细介绍
Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统
| 产品技术资料 | 型号 | 说明 | 价格 |
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| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
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| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
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| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
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| 查看规格书 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：
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Keithley4200A-SC参数分析仪半导体测试系统