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JT3011变比综合测试仪 详细摘要: JT3011变比综合测试仪户内外均可使用,但应避开雨淋、腐蚀气体、尘埃过浓、高温、阳光直射等场所使用。
产品型号: 所在地:上海市 更新时间:2023-12-08 参考价:¥ 5000 在线留言 -
WABC102型变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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GSZBC-III变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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GH-6202A 变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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YS8220变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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JT3010变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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YWBB变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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QZDBB-27变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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BY560-A变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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BZC-I变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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BZC3000变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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BZC-III变比综合测试仪 详细摘要: 本公司研制生产的 变比综合测试仪采用32位ARM内核作为处理的核心,对整机进行控制。实现了单相或三相变压器的变比测量的一次完成。仪器的操作全部用中文菜单显示,简...
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