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詳細(xì)摘要： NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統(tǒng)用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，pattern形貌和表面形...

詳細(xì)摘要： NanoSystem CS-2000氣缸內(nèi)壁表面形貌儀結(jié)合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術(shù)之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進(jìn)行表面形貌的測量，它結(jié)合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達(dá)21.7毫米x...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺可方便的進(jìn)...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺可方便的進(jìn)行放大...