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Mahr 台式表面粗糙度测量仪Perthometer S2
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货物所在地: 上海上海市
更新时间: 2025-02-17 15:36:19
期: 2025年2月17日--2025年8月17日
已获点击: 131
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产品简介

Mahr 台式表面粗糙度测量仪Perthometer S2
特征:
1)依照现行标准可实现粗糙度和波度测量(DIN EN ISO 3274)
2)重量轻 (不包括内置充电电池)
3)高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓

详细介绍

Mahr 的台式表面测量仪适合于生产现场环境, 不但性能高而且操作简易。 可处理在生产现场不断增加的测量任务, 进行评定和文檔处理都表现很强的灵活性。 按照 ISO, JIS 和 ASME 标准, 可进行对标准粗糙度, 波度及轮廓参数的评定。无滑块传感器结合容易更换的测尖, 可快速实现不同的测量任务。

 

特征:
1)依照现行标准可实现粗糙度和波度测量(DIN EN ISO 3274)
2)重量轻 (不包括内置充电电池)
3)高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
4)基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
5)通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
6)PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
7) S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序
8)用途广泛和简易应用的软件功能, 例如:
 ---自动设置标准滤波器和扫瞄长度功能
 ---校准和维护周期监察功能
 ---弧线滤除功能
 ---动态和静态校准程序

 

 ---多达 41 种评定参数, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,MOTIF,

R,W, P 和 D 轮廓及特性曲线, 并可设定MRC/ADC 不同比例缩放
 ---滤波器和扫瞄长度可选
 ---公差监控, 以声音和图标提示
 ---密码?;すδ? 防止错误的设置和修改
 ---内置统计功能
 ---独立功能按键
 ---简易呼出和打印测量记录及各种功能
 ---通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
 ---SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
 ---RS 232 接口可实现数据传输和远程

 

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