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panametrics 38DL plus
奧林巴斯生產(chǎn)的38DL PLUS是一款手持式超聲測厚儀，可用于多種測厚應用。使用38DL PLUS儀器，操作人員僅從土件的一側(cè)就可在不損壞工件的情況下，測量出被腐蝕、帶點蝕缺陷、帶結(jié)疤缺陷、帶粒狀缺陷的材料以及其它難于測量材料的厚度。

panametrics 38DL plus

 

 

產(chǎn)品說明

奧林巴斯生產(chǎn)的38DL PLUS是一款手持式超聲測厚儀，可用于多種測厚應用。使用38DL PLUS儀器，操作人員僅從土件的一側(cè)就可在不損壞工件的情況下，測量出被腐蝕、帶點蝕缺陷、帶結(jié)疤缺陷、帶粒狀缺陷的材料以及其它難于測量材料的厚度。

38DL PLUS儀器可同時顯示厚度讀數(shù)和A掃描，以便用戶核查波形。3SDL PLUS儀器的微處理器持續(xù)調(diào)整接收器的設置，以在可靠性、范圍、靈敏度和性方面優(yōu)化每次測量操作。內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器多可存儲475000個厚度測量值和20000個波形。

38DL PLUS儀器可以使用各種型號的單晶和雙晶探頭，測量厚度在0.08毫米~63 5毫米(0.003英寸~25英寸)范圍內(nèi)的材料。被測材料的溫度范圍在-20℃~500 ℃（一4℉~932℉)之間，具體范圍取決于材料特性、所用探頭及測量模式。用戶還可以使用單晶或雙晶探頭進行回波到回波測量。

可通過雙向串行USB/RS-232通訊接口將38DL PLUS儀器連接到打印機或計算機。

測量功能

• 穿透涂層(THRU-COAT)測量
• 溫度補償測量
• 小植/平均值〔模式）
• EMAT探頭性能
• 表明測量狀態(tài)的標志及報警
• 全VAG彩色透反LED背光顯示屏
• 自動探頭識別功能，可識別標準D79X和MT705系列探頭
• 對默認增益的功態(tài)優(yōu)化調(diào)整
• V聲程校準，為所有雙晶探頭建立自定義V聲程校正表
• 針對校準雙回波的警告
• 對未知材料一聲速和/或探頭零位的校準
• 回波到回波測量
• 每秒30個讀數(shù)的快速掃查模式
• 手動增益調(diào)整，步距為1dB
• 信號丟失(LOS)情況下，保持厚度或顯示空白
• 保持小值或大值或同時保持小值和大值
• 以值或百分比表示的、相對于設置點的厚度差值顯示
• 密碼保護鎖定功能的選項
• 可以選擇分辨率:低分辨率為0.1毫米(0.01英寸):標準分辨率為U.01毫米(0.001英寸);（可選購)高分辨率為0.001毫米(0.0001英寸)(高分辨率選項僅對部分探頭適用)

A掃描和B掃描顯示選項

• 用于驗證關鍵性測量的實時A掃描波形顯示
• 手動凍結(jié)模式，可進行后處理操作
• 波形顯示的手動放大和范圍控制
• 信號丟失（LOS）情況卜的自動保持，以及自功放大(用于測量的回波被居中)
• 擴展空白
• 回波到回波模式下，個接收到的回波后的空白
• 接收器增益讀數(shù)
• 可在掃杏測量過程中，捕獲并顯示小厚度讀數(shù)的波形
• 顯示存儲的和下載的波形
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器功能
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲，可將數(shù)據(jù)導出到可插拔microSD存儲卡中
• 可存儲475000個信息全面的厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形
• 數(shù)據(jù)庫增強功能，可使用32位字符對文件命名，使用20位字符對1D編碼命名
• 自動1D編碼根據(jù)須置的序列增量，或使用鍵盤以手動方式編輯ID編碼

 

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器功能

l 內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲，可將數(shù)據(jù)導到插拔MicroSD存儲卡中

l 可存儲475000個信息全面的厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。

l 數(shù)據(jù)庫增強功能，可使用32位字符對文件命名，可使用20為字符對ID編碼命名

l 自動ID編碼根據(jù)預置的序列增量或使用鍵盤以手動方式編輯ID編碼

l 將讀數(shù)/波形保存到ID編碼

l 在顯示當前厚度讀數(shù)和波形時，同時顯示ID編碼，存儲的注釋及存儲的參考厚度值

l 9種可用的文件格式

l 刪除所選數(shù)據(jù)或存儲的全部數(shù)據(jù)

l 保存或發(fā)送屏幕上保持或凍結(jié)的厚度讀數(shù)

l 傳送所選數(shù)據(jù)或存儲的全部數(shù)據(jù)

l 可使用鍵盤進行編輯的通訊讀數(shù)

l 標準USB或RS232雙向通訊

 

打開38DL PLUS儀器后，會出現(xiàn)測量屏幕，在此會看到波形圖像中的超聲回波，讀到測量出的厚度讀數(shù)，測量屏幕是38DL PLUS軟件的主要屏幕，38DL PLUS軟件的任何位置，只要按下【測量鍵】就會返回測量屏幕，電源指示器會始終出現(xiàn)在38DL PLUS儀器屏幕的右側(cè)。

 

 

有經(jīng)驗的操作人員可以通過波形軌跡即A掃描，核查用戶厚度測量的信號是否為正確的底面回波，而不是噪波，材料不規(guī)則處反射的聲波或第二個多種回波，通過A掃描還可觀測到一些非常細小的，儀器不能測量的信號指示，

位于屏幕頂端的ID欄中包含當前厚度測量位置的ID碼，以前存儲的值，注釋以及某些指示器。當以前存儲的厚度值不是剛剛采集的值，而是來自某文件時，下載指示器將出現(xiàn)。

 

當儀器右側(cè)I/O蓋下面的插槽中有MiscroSD存儲卡時，儀器右上角會出現(xiàn)外置MiscroSD存儲卡指示器，38DL PLUS儀器啟動后會自動識別MiscroSD外置存儲卡。根據(jù)不同情況及所使用的功能和選項，在波形圖像和主要測量值周圍會出現(xiàn)個各種不同的指示器和數(shù)值，位于屏幕底部的幫助欄中的文字表明用戶在菜單結(jié)構(gòu)中瀏覽和進行選擇時所使用的按鍵。

當38DL PLUS儀器不再探測到超聲回波時，會出現(xiàn)信號丟失（LOS）指示器，而且厚度值被清除。

38DL PLUS測厚儀雙晶探頭特性：

• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
• 10個自定義雙晶探頭設置。
• 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 校準過程中出現(xiàn)回波加倍時使用的校準加倍功能。
• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
• 高溫測量：溫度可高達500°C。
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
• EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。