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菲希爾代理FISCHER XUL220信息

時間:2025/4/27閱讀:293

菲希爾XUL系列X射線熒光鍍層測厚儀

——適用于電鍍及電子元件生產的高效鍍層厚度檢測方案

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XUL220核心特性

  1. 自下而上測量設計

    • 配備寬大測量室,支持大型樣品(如印制電路板、柔性電路板)快速定位,簡化操作流程。

    • 測量方向從樣品底部向上,避免傳統(tǒng)儀器因樣品尺寸受限導致的定位難題。

  2. 模塊化硬件配置

    • 探測器統(tǒng)一化:全系列采用相同高性能探測器,確保測量結果一致性。

    • 靈活選配組件:

  • 準直器:可適配不同尺寸,優(yōu)化測量精度。

  • 濾波器:根據材料特性選擇過濾波段,提升信噪比。

  • 微聚焦X射線管:支持直徑低至 100 µm的微型結構(如芯片觸點、微電路)的精確測量。

  1. 高效檢測性能

    • 非破壞性測量,無需預處理樣品,直接獲取鍍層厚度數據。

    • 適用于多鍍層體系(如鎳/金、銅/錫等),可分層分析復合鍍層結構。


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